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cbc分析下颌阻生第三磨牙牙根与下颌管位置关系 下颌第三磨牙去除术是一种常见的口腔外科手术。由于第三磨牙位置和周围解剖结构的特殊性，很难取出。术后并发症的发生率很高，尤其是下牙槽神经损伤。有报道下颌阻生第三磨牙拔除术后导致下唇麻木的发生率为0.4%～8.4%。 下牙槽神经损伤与下颌第三磨牙阻生深度、阻生角度、牙根与下颌管密切接触程度以及术者的临床经验有关,其中下颌第三磨牙牙根与下颌管密切接触的解剖关系,被认为是第三磨牙拔除导致神经损伤的重要原因。两者接触密切时,易在拔牙术中受外力作用而导致下颌管皮质骨压迫,从而间接或直接损伤下牙槽神经。因此,在下颌阻生第三磨牙拔除时,应在术前对牙根与下颌管的解剖关系进行精确分析,以便选择最佳的拔除策略,预防下牙槽神经损伤。 目前,下颌阻生第三磨牙拔除术前通常以X线片分析阻力、牙根与下颌管的解剖关系,但该法仅能反映牙根与下颌管的二维解剖关系。CBCT是近年来推出并逐渐用于口腔临床的影像学检查手段,具有较高的空间分辨率,能在三维上准确定位牙根与下颌管的关系。目前关于CBCT冠状面分析下颌阻生第三磨牙牙根和下颌管解剖关系的研究尚少,通过术前影像学分析,在CBCT上找出在X线片上根尖与下颌管有重叠影像的下颌阻生第三磨牙牙根与下颌管的位置关系,并在拔牙术中观察不同牙根位置时下颌神经的暴露率,为预防下牙槽神经损伤提供参考。 1 材料和方法 1.1 研究对象的选择 由2名具有10年工作经验的口腔外科医生(经标准一致性检验Kappa值﹥81)通过X线片和临床检查,从2010-04—2012-04在我院口腔外科诊断为下颌第三磨牙阻生且需要拔除的7 751例(15 174牙)患者中,选取中低位阻生者401例(518牙)作为研究对象,其中男240例(307牙),女161例(211牙),年龄20～60岁。纳入标准:①X线片示牙根发育完成,根尖位于下颌管上下缘白线之间或超出下颌管下缘骨白线(图1);②下颌第三磨牙区无骨折、囊肿、肿瘤等病变;③知情同意。 1.2 方法 1.2.1 位置传感器和测点布置 首先使用CBCT机(TH59439 Q572 MG020 L59, Ser.No02689,德国)拍摄受试者下颌阻生第三磨牙定位片,通过计算机屏幕上显示的曲面体层影像,设定研究区和投照中心。随后在电压85 kV,电流与曝光时间42 mAS的条件下对研究区进行扫描,图像直接进入电脑并进行三维重建。 1.2.2 下颌管的使用 在CBCT三维图像上从冠状面观察下颌管与根尖位置的关系并将其分成4类:①下颌管在根尖舌侧;②下颌管在多根牙牙根之间;③下颌管在根尖颊侧;④下颌管在根尖下方。同时根据下颌管周围骨组织缺失情况评价上述每一位置类型中牙根与下颌管的接触情况,影像学上下颌管周围骨组织消失者,认为牙根与下颌管密切接触,术后神经血管束易暴露(图2),然后据此分类计算CBCT和曲面断层片的观察符合率。 1.2.3 微创牙的观察 所有受试者均由两位具有10年以上工作经验的口腔外科医生在局麻下以外科专用手机进行微创拔牙,并观察下颌神经是否有暴露。术后1周进行随访(包括电话随访),如患者有下唇麻木症状,则继续随访,术后第1个月每周随访1次,第2、3个月每半个月随访1次;以后每半年随访1次。 1.3 牙根不同部位的神经暴露情况 采用SPSS 16. 0统计软件进行统计分析。下颌管位于牙根不同部位各组之间的观察符合率用卡方(χ2)检验,并分别计算X线片和CBCT上不同牙根位置时术中神经暴露发生率及其与相应评估手段的符合率。检验水准α=0.05。 2 结果 2.1 下颌管周围骨组织 X线片示牙根与下颌管重叠的518个牙,CBCT观察显示仅有343牙(66.22%)的牙根与下颌管紧密接触(下颌管周围骨组织消失);进一步分析下颌管位于牙根不同部位时两者接触发生情况:下颌管位于牙根之间时两者接触发生率最高,由高到低依次为 根间﹥舌侧﹥根尖下方﹥颊侧,各部位间两两比较差异均有统计学意义(P﹤0.05)(表1)。 2.2 下牙槽神经暴露 拔牙术中检查发现:X线片示牙根与下颌管重叠的牙术中下牙槽神经暴露发生率明显低于CBCT(P﹤0.05)(表2)。 X线片示牙根超出下颌管下缘骨白线时,下牙槽神经暴露发生率最高;位于下颌管下1/2时次之;位于下颌管上1/2时最低,三者间两两相比差异均有统计学意义(P﹤0.05)(表3)。 CBCT示下颌管位于牙根之间时,下牙槽神经暴露发生率最高,由高到低依次为:根间﹥舌侧﹥根尖下方﹥颊侧,各位置间两两比较差异均有统计学意义(P﹤0.05)(表4)。 3 不同位置牙根与下颌管及其他牙槽神经损伤的关系 下颌阻生第三磨牙拔除术是口腔外科常见的手术,由于阻生下颌第三磨牙的位置、其邻牙及周围组织解剖结构的特殊性,术中或术后并发症的发生