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本发明公开了一种多通道多功能的芯片测试机及测试方法，测试机包括：上位机和芯片测试机；上位机设置控制参数并发送至芯片测试机及显示测试结果；芯片测试机包括：通信板、背板、多个测试板卡、多个面板、转接板及芯片承载板；通信板接收上位机发送的控制参数并通过背板传给测试板卡，及接收转接板的测试结果并传给上位机；每个测试板卡均包括：主控芯片及多通道多功能测试资源，主控芯片基于控制参数，用于控制多通道多功能测试资源选择、控制待测芯片多功能测试，及协调其他板卡工作；通过面板将全部测试资源连接至转接板，对接入的待测
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 115932540 A
(43)申请公布日 2023.04.07
(21)申请号 202211489233.3
(22)申请日 2022.11.25
(71)申请人 镇江矽佳测试技术有限公司
地址 2
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