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本实用新型公开了一种具有水平调整机构的集成电路测试设备,包括平台,平台的顶部设有测试仪本体,截止机构包括截止块,截止块的一侧固定连接有导杆,凹槽的顶部两侧均开设有与截止块位置相对的开槽,开槽的槽壁开设有限位槽,导杆与限位槽的一端活动穿插卡接,导杆的一端固定连接有弹簧,弹簧的一端与限位槽的槽壁固定连接,截止块的底端与开槽的底端活动连接,截止块的另一侧设有多个凸齿,多个凸齿固定连接于齿板上,且相邻两个凸齿与截止块卡接。本实用新型一种具有水平调整机构的集成电路测试设备,通过调节机构调节测试仪本体的水平
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 210604885 U
(45)授权公告日
2020.05.22
(21)申请号 20192
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