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基于分解多目标进化算法的2.5D集成电路测试路径优化方法，属于集成电路测试优化领域，本发明为解决传统优化方法在求解多目标优化问题时，通常需要问题的梯度信息而不能够高效地求解，平衡测试时间与测试硬件开销的效果不理想的问题。本发明方法包括：步骤一、初始化，对2.5D集成电路的测试路径配置方案生成初始种群，并依据多目标进化算法评估初始种群指标，选择最优适应度指标作为初始种群的理想点；步骤二、采用交叉和变异算子产生新解，并依据多目标进化算法评估新解、更新理想点步骤三、环境选择，包括更新邻域解和精英解集合
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116843024 A
(43)申请公布日 2023.10.03
(21)申请号 202310808109.7
(22)申请日 2023.07.03
(71)申请人 哈尔滨工业大学（威海）
地址 2
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