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cadcam全瓷冠在后牙种植体修复中的临床应用 口腔栽培技术被认为是修复整个口腔牙齿的最佳选择。临床上后牙种植修复常规方法多采用金属烤瓷冠或者颌面金属颊侧烤瓷的烤瓷冠设计进行修复,由于诸多因素导致修复效果并不理想。高强度瓷及树脂粘接技术发明后,全瓷修复近几年获得了较高的临床成功率。随着全瓷材料制作技术的进步,牙科全瓷材料的抗弯强度从几十兆帕提高到数百乃至千兆帕,后牙种植术后采用全瓷冠修复也逐步开展起来。本文对我院2004年以来后牙行I-TI种植术后采用CAD/CAM二氧化锆全瓷冠修复30例,经过6-36个月的随访观察,取得了满意效果,现报道如下。 1. 数据和方法 1.1 病例选择标准 选择单颗后牙行ITI种植术后采用氧化锆全瓷冠修复的患者30例,其中男性14例,女性16例,年龄23-56岁。上颌8例,下颌22例,均为第一磨牙。患者被告知种植手术和修复过程以及可能发生的并发症。病例选择标准:(1)患者均为在我院种植科行种植体修复缺牙的病例,且种植体植入后观察3个月无种植体周围炎等并发症;(2)患者经济条件可以接受氧化锆全瓷冠修复;(3)符合氧化锆全瓷冠适应症。 1.2 德国:cem树脂粘结剂和zolba 硅橡胶印模材料(贺力氏公司,日本);Rely X TM Unicem树脂粘结剂(3M公司,德国);ZENOTec CAD/CAM机(威兰德公司,德国)捷诺系统,适用的可切削陶瓷为ZENOZr(威兰德公司,德国)。ITI种植系统(Straum公司,瑞士)。 1.3 方法 常规制取种植体转移印模,灌制模型,交广东粤诚义齿制作中心制作,完成后试戴、调磨,采用树脂粘接剂粘接。 1.4 复体修复体t分级 临床观察6-36个月,平均观察16个月。以美国公共健康协会(CDA)的修订标准,确定指标等级: (1)修复体边缘合适性:A级:不卡探针或稍卡探针,但修复体与基牙无间隙。B级:卡探针,修复体与基牙稍有间隙,探针能进入间隙,但牙本质或基底未暴露。C级:探针能进入间隙,探到牙本质。 (2)修复体形态:A级:修复体外形与邻牙延续一致,表面无凹陷。B级:修复体外形不协调,表面有凹凸不平。C级:修复体外形有明显缺陷,甚至有缺损,牙本质或基底暴露。 (3)修复体颜色:A级:颜色明暗度及透光度与邻牙协调一致。B级:颜色明暗度及透光度与邻牙不完全协调一致,但其明暗变化在正常范围内。C级:颜色明暗度及透光度与邻牙不协调一致,明暗变化超出正常范围。 (4)修复体折裂:A级:冠没有任何可见的裂纹或折裂。B级:冠有可见的裂纹但没有折裂。C级:冠折裂脱落。 2. 面料瓷脱修复体的观察 根据观察标准,30例CAD/CAM二氧化锆全瓷冠种植修复经6-36个月随访观察,结果显示,除发现1例右侧下颌第一磨牙近中颊侧饰面瓷脱落,属于观察标准修复体折裂的C级外,各项指标均达到了A类标准:修复体边缘不卡探针或稍卡探针,但修复体与种植基台无间隙;修复体外形与邻牙延续一致,表面无凹陷,颜色明暗度及透光度与邻牙协调一致。全瓷冠在种植体上修复后定期复查结果见附表。 经过6个月至3年的临床观察,30例患者中30颗全瓷冠边缘适合性好,颜色外型接近天然牙,1颗全瓷冠崩瓷,修复成功率为97%,修复效果良好。 3. cad/最佳技术 全瓷系统以其卓越的美学性能、良好的生物相容性、耐腐蚀性、耐磨损性和X线透射性而受到修复医生和患者青睐。然而,因其存在抗折强度低、脆性大等问题,致使在后牙修复临床失败率较高而使临床应用受限。自1985年第一个牙科计算机辅助设计和制作(CAD/CAM)系统Dulex问世以来,牙科CAD/CAM系统不断发展完善,临床应用范围不断扩大,为口腔临床医师提供了一种独立、简单、快速地设计和制作各类修复体的方法,从而避免了依赖于技师的制作以及繁琐的传统制作工序。 本文对30例患者采用CAD/CAM技术制作的二氧化锆全瓷冠适合性良好,经6-36个月的临床观察和X线片显示进一步表明:CAD/CAM锆瓷修复体在适合性和美观色泽等方面都能达到临床要求。临床观察显示CAD/CAM系统制作的锆瓷修复体生物相容性好,没有引起1例过敏反应和边缘黑线。同时使用时既可以采用树脂粘接法,也可采用传统粘接法,适应性广。30例患者的冠边缘与基台邻接影像密合,外形美观逼真,与基台衔接处均连续一致。冠良好的边缘适合性是治疗成功的必要条件,研究显示,CAD/CAM制作的全瓷冠边缘间隙为65μm,操作简便。传统的修复体制作方法比较复杂,需经过取模,蜡型制作,包埋铸造,烧瓷等复杂的操作过程,而种植支持的CAD/CAM系统省略了这些技工操作步骤。使口腔修复摆脱了牙体预备—取印模—灌印模—制作蜡型—包埋铸造的工作模式,而采用间接法取得光学印模输入计算机,再在计算机上设计修复体,最后用铣床加工修复体来代替既节约了时间又提