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本发明提供一种集成电路设计方法及集成电路仿真系统,涉及电路设计技术领域,其中集成电路设计方法,包括:根据获取的应用信息,基于选取的各元器件生成集成电路的初始架构,并对初始架构进行系统级架构性能仿真,得到架构性能参数;在架构性能参数满足设定性能条件的情况下,根据各元器件的引脚信息,确定各元器件之间的引脚互连信息;基于引脚互连信息和设定工艺约束,对初始架构中各元器件进行引脚连线和布局,得到集成电路的目标架构;对目标架构进行完整性仿真,得到完整性参数,并在完整性参数满足设定完整性条件的情况下,输出目标
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116720474 A
(43)申请公布日 2023.09.08
(21)申请号 202310685160.3 G06F 115/02 (2020.01)
(22)申请日 2023.06
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