1. 您所在位置：
  2. 网站首页
  3. 文档分类
  4. 行业资料
  5. 国内专利

存储阵列自刷新频率测试方法与存储阵列测试设备.pdfVIP

存储阵列自刷新频率测试方法与存储阵列测试设备.pdf

    1. 1、本文档共16页，其中可免费阅读15页，需付费10金币后方可阅读剩余内容。
    2. 2、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。
    3. 3、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
    4. 4、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
    5. 5、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
    6. 6、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
    7. 7、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
    8. 8、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次， 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
    查看更多
    本公开提供一种存储阵列自刷新频率测试方法与存储阵列测试设备。所述测试方法包括：提供存储阵列；确定所述存储阵列中各存储单元漏电的最短时长，并标记为第一时长；根据所述第一时长设定所述存储阵列的主动刷新周期，所述主动刷新周期大于所述第一时长；进行m次测试，其中第n次测试包括顺次进行刷新位置计数清零、对所述存储阵列写入预设数据、时长为Tn的自刷新、时长为一个所述主动刷新周期的主动刷新以及读取所述存储阵列并记录读取状态，其中Tn‑1＜Tn，2≤n≤m；根据所述m次测试对应的m个读取状态确定所述存储阵列的自

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114121074 A (43)申请公布日 2022.03.01 (21)申请号 202010892574.X (22)申请日 2020.08.31 (71)申请人 长鑫存储技术有限公司

    您可能关注的文档

    最近下载

    文档评论（0）

    知识产权出版社 + 关注
    官方认证
    文档贡献者

    知识产权出版社有限责任公司（原名专利文献出版社）成立于1980年8月，由国家知识产权局主管、主办。长期以来， 知识产权出版社非常重视专利数据资源的建设工作， 经过多年来的积累，已经收藏了数以亿计的中外专利数据资源。

    咨询Ta 进入空间
    认证主体北京中献电子技术开发有限公司
    IP属地四川
    统一社会信用代码/组织机构代码
    91110108102011667U

    1亿VIP精品文档

    更多 >

    相关文档

    更多 >