基于IO-Link的阀岛控制器老化测试系统和方法.pdfVIP

基于IO-Link的阀岛控制器老化测试系统和方法.pdf

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本发明公开了基于IO‑Link的阀岛控制器老化测试系统和方法,测试系统包括主站;主站负载;从站,包括阀岛控制器,主站负载通过阀岛控制器连接线连接与之一一对应的阀岛控制器;和从站负载;通过主站设置测试参数和时间戳并发送测试指令,经过主站负载分发测试指令,阀岛控制器解析测试指令中的时间戳和控制信号,从而控制从站负载根据解析的测试指令中的时间戳和控制信号运行,实现主站对多个阀岛控制器进行同步测试。本发明可以实现一个IO‑Link芯片工作在master模式控制多个device从站,通过时间戳使各个阀岛控

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116679673 A (43)申请公布日 2023.09.01 (21)申请号 202310771163.9 (22)申请日 2023.06.27 (71)申请人 浙江桃园智能科技有限公司 地址

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