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统计技术培训目录统计技术总介常用统计技术统计技术的应用特点统计技术的应用领域常用的概率分布正态分布统计检验工序能力质量控制图---SPC一、关于统计技术的总介（一）常用统计技术统计检验---显著性检验工序能力分析质量控制图正交分析和实验设计相关分析、回归分析（二）统计技术的应用特点对总体及总体平均数进行估计比较两个或多个数量之间的差异性生产过程的预测及控制物料/产品的验收---抽样方案（二）统计技术的应用特点对影响事物的变量因素进行分析确认变量之间的相关性分析因变量和自变量间的回归关系试验设计（三）统计技术的应用领域质量管理安全评价---风险分析市场分析产品设计气候、环境预测（四）常见的概率分布连续型随机变量---正态分布离散型随机变量---二项分布帕松分布（poisson)、小概率事件二、正态分布正态总体中抽取的样本平均数也服从正态分布中心极限原理 总体不是正态分布时，若样本n充分大，则样本平均数X近似服从正态分布一三、统计检验 概念---从样本数据出发对总体的比较进行推断2个正态总体方差的检验2个正态总体平均值的检验三、统计检验〈2个正态总体方差检验〉 ---服从F分布 df=n-1 d1=n1-1 d2=n2-1三、统计检验双侧检：当原假设H0：δ12=δ22,则否定域为:FFα/2或FF1- α/2三、统计检验〈两正态总体均值的检验〉t检验〈T-test〉当原假设H0：μ1=μ2，则否定域为︱t︱tα三、统计检验两个总体的比较首先是F-test在F-test显示没有差异时再做T-test三、统计检验〈两正态总体均值的检验〉〈成对检验〉在同一条件下，将试验结果与对照相对比的方法Df=n-1H0：Ud=0,即μ1=μ2否定域︱t︱tα四、工序能力定义 工序控制能力：简称工序能力，就是工序加工合格产品的能力，也就是生产出来的产品质量与规定的质量要求相符合的程度，以Cp表示。 四、工序能力Cpk=Min〔CPL,CPU〕 CPL=(过程平均值-LSL）/3σ CPU=(USL-过程平均值)/3σCp,Cpk1四、工序能力过程综合能力等级评价---Ⅲ为最适宜的过程能力 过程能 力等质量特性 级过程能力指数≥1.67≥1.33---1.67≥1---1.33≥0.67---10.67关键质量特性(A类)ⅢⅣⅤⅥⅦ重要质量特性(B类)ⅡⅢⅣⅤⅥ一般质量特性(C类)ⅠⅡⅢⅣⅤ五、质量控制图---SPC过程控制过程输入输出资源过程的波动性稳定的过程不稳定的过程经时间变化仍稳定可预测变化主要由偶然因素引起随时间而变化不可预测变化同时来源于偶然和系统因素五、质量控制图---SPC过程及过程控制系统有反馈的过程控制系统模型过程控制系统过程的呼声统计方法人设备材料方法环境我们工作的方式/资源的融合顾客产品或服务识别不断变化的需求和期望输入过程/系统输出顾客的呼声五、质量控制图---SPC产品质量的统计特性1、质量的波动性影响因素特点处理偶然因素始终存在；方向随机；影响小；难控制/系统因素时有时无；方向确定；影响大，可以控制严加控制五、质量控制图---SPC2、质量波动的规律性计量数据：服从正态分布，μ、σ不变计数数据：服从二项分布或泊松分布五、质量控制图---SPC（一）对生产过程质量进行预测和控制的手段高质量的要求是：符合标准持续稳定质量控制的目的是---减少质量波动，降低成本。五、质量控制图---SPC（二）常用控制图的种类计量型正态分布单值---移动极差图：X-MR均值---极差图：中位数---极差图：计数型二项分布不合格品率图：P不合格品数控制图：Pn泊松分布单位缺陷数控制图：U缺陷数图：C五、质量控制图---SPC（三）控制图组成中线警戒上下限控制上下限五、质量控制图---SPC（三）控制图种类平均值控制图：极差控制图 ：移动极差 ： X-MR五、质量控制图---SPC（四）控制图的使用原则 1、取样原则---随机抽样间隔合理确定样本大小应确保控制图的检出力，一般至少≧24，样本分布接近正态分布五、质量控制图---SPC2、计量控制图须二图联用，分别控制质量特性值分布的中心值和标准偏差3、计数控制图单图使用，只控制中心4、过程能力必须达到基本要求，即Cp或 5、生产条件或质量改进后应重新设计控制图五、质量控制图---SPC（五）不同控制图的检出力和适用范围不同 X（ 检出力量强，控制强度高，且有较强通用性）；SRMR（S因检出力量强，但因要求样本大小 10，但计数复杂，较少用）。五、质量控制图---SPC(六) 平均值---极差控制图 ---适用于数据可以分组的场合 可提高检出力五、质量控制图---SPC (七)X-MR单值移动极差控制图 ---适用场合测试费用高昂;样品测试后不能再使用需尽早发现异