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ICS 25.040.40JBN 12备案号:58522—2017中华人民共和国机械行业标准JB/T132522017微波(雷达)物位计Microwave (Radiar)level transmitter2017-04-12发布2018-01-01实施中华人民共和国工业和信息化部发布
JB/T13252—2017目次前吉III1范围规范性引用文件3术语和定义4产品分类和基本参数4.1产品分类.24.2基本参数..4.3正带工作条件5技术要求.5.1测量范图..5.2与准确度有关的要求,5.3与影响量有关的要求.5.4其他要求.6试验方法19试验条件,66.2测量范围及与准确度有关的试验6.3与影响量有关的试验6.4其他试验117检验规则127.1型式检验,127.2出厂检验13标志、使用说明书、1包装、运输和贮存138.1标志,138.2使用说明书8.3包装8.4运输.8.5贮存.14附录A(规范性附录)电磁兼容抗扰度试验性能判据15附录B(资料性附录)试验数据记录表16图| 1四筒型周定基准点测试装置示意图,图 2反射板式固定基准点测试装置示意图8图 3多次反射平行板式测试装置示意图,表 1物位计用引用误差表示的基本误差限表2电感兼容抗扰度要求表3绝缘强度试验电压表4交流电源电压和频率的组合变化10
JB/T 13252—20176.2测量范围及与准确度有关的试验6.2.1总则由于物位计测量范围较大,难以用实物标定,故规定在水平方向用反射板模拟物位反射信号,用移动反射板距离模报物位变化,来标定物位计。对于最大测量距离,由于距离太大,可能达100m,难以模拟实际距高。故对于最大测量距离为30m以上的物位计,其最大测量距离试验,采用定性的测试方法。6.2.2试验设备试验设各要求如下:基本误差测试设备,宜采用以下两种形式:能提供连续距离变化的轨道式试验装置(20m~30m)。结构:物位计水平固定在安装台上,物位计天线波束轴和轨道平行,轨道应平直,反射板垂直于天线波束轴,沿轨道平稳移动,其中心移动轨迹与波束轴重合。反射板为金属平板,面积不小于1mX1m在物位计旁安装激光测距仪,测量反射板距物位计安装基准的距离。激光测距仪的不准确度应不大于被标定物位计基本误差限绝对值的13。在轨道的一端及沿轨道的上、下左右侧,均需贴吸微波材料,使天线发射的微波近似在无限空间传播,除反射板反射信号外,没有其他反射信号。能提供若干个固定基准点反射信号的测试装置:,筒型固定基准点测试装置(见图1)。该装置由金属筒构成,物位计固定在圆筒一端,天线波束轴和圆筒中心轴重合,圆筒内壁贴满吸波材料,使天线发射的微波近似在无限空间传播。在圆筒轴线方向上的几个基准点位置(如天线基准1m、4m、8m、12m、16m等),可垂直于轴线插入金属板,模拟物位反射,使微波反射回物位计天线,校验基准点位置的物位计测量值。基准点值用安装在物位计旁侧的激光测距仪给出。单位为毫来1 0001000物位计$800管板管内型吸波机料图1圆筒型固定基准点测试装置示意图·反射板式固定基准点测试装置(见图2)。即在固定反射点位置,可放置可移动(或拆卸)的反射板,一个固定反射点测试完成后反射板移动安装到下一个待测反射点。该装置测试效率高,适用于物位计的出厂校验。7
JB/T 13252—2017图2反射板式固定基准点测试装置示意围最大测量距离测试设备,采用以下两种形式:超大空间或现场。空旷空闻满足物位计最大量程要求,或存在与物位计最大量程相当的实际工况,测试反射板尺寸不小于1m且不大于4m,现场最大距离有其他测试手段(如米尺、激光尺等)比对。多次反射平行板(见图3)。结构:物位计天线波束轴置于两个平行的金属板中间,金属板面积不小于1mX1m,物位计发出的微波会在两个金属板之间多次反射,其反射波可以多次被物位计接收,形成多次回波假如两平行板距离为D,物位计接收到次回波,等效于微波空间传播距高为nD。一般小于4为宜。图3多次反射平行板式测试装置示意图6.2.3测量范围试验最大测量距离试验以下两种最大测量距离试验方法可任选一种:直接测试法:·现场空旷空间满足物位计最大量程要求;,判据:物位计稳定显示出最大量程(或以上)的数据,为合格:06
JB/T 13252—2017·将测试数据填入表B.1所示的试验数据记录表中。一多次反射法:物位计置于多次反射平板间,通过调试仪表可显示多次回波,且稳定显示最大量程(或以上)的数据。两板间的距离D用激光测距仪测定,物位计接收次回波,则nD应大于或等于物位计最大量程。如果稍微移动两板间的距离,物位计能稳定显示正确距离数据并随之接近n倍变化,可判断为合格。测试数据填入表B.2所示的试验数据记录表中。最小测量距离试验利用轨道式测量装置或定点测量装置,将反射板移动到最
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