JBT 5533-2007静电复印硒鼓 膜层附着力试验方法.pdf

ICS 37.100.01G 81备案号：21875-2007中华人民共和国机械行业标准JB/T 5533—-2007代替JB/T 5533—1991静电复印硒鼓膜层附着力试验方法Selenium drum for electrostatic copying- Testing method of adhesive force between coating and backing2007-10-08 发布2008-03-01实施中华人民共和国国家发展和改革委员会发布 JB/T 5533-2007次目前言12原理.3试验设备.4 试样。试验步骤试验报告6 JB/T 5533--2007前言本标准代替JB/T5533一1991《静电复印硒鼓膜层附着力试验方法》。本标准与JB/T5533一1991相比，主要变化如下：增加标准的英文名称；一增加前言；，，一一删除附加说明。本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由全国复印机械标准化技术委员会（SAC/TC147）归口。本标准由天津复印技术研究所负责起草。本标准主要起草人：赵晓东、唐云山、蔺亿铭。本标准所代替标准的历次版本发布情况：-JB/T 5533—1991。II JB/T 5533--2007静电复印硒鼓膜层附着力试验方法范围1本标准规定了静电复印硒鼓膜层附着力的试验方法，其中包括：原理、设备、试样、试验步骤和试验报告。本标准适用于Se，Se-Te及Aé2Se3等类型硒鼓。2原理硒鼓底基材料与膜层材料的热膨胀系数不同，在一定的高低温冷热循环冲击下产生的应力变化，使膜层出现隆起、龟裂、脱落，由此判定硒鼓膜层的附着力是否合格。3试验设备3.1试验箱：3.1.1应提供两个试验箱，一个作为冷箱，一个作为热箱，试验箱的放置应便于硒鼓试样在两箱之间迅速转换。3.1.2试验箱应该能够在放置硒鼓试样的区域内保持试验所要求的温度。3.1.3试验箱内的空气应流通，靠近硒鼓试样处测量其速度应不小于2m/s。3.1.4试验箱内的容积应保证在硒鼓试样放人后不超过5min就能使温度保持在规定范围内。3.2支撑件：硒鼓试样的支撑件的导热率应该是低的，以使实际上硒鼓试样近似于绝热。3.3　5～10 倍放大镜。4　试样试样的膜层应无任何脱落、隆起、龟裂、划伤等会影响试验结果的缺陷。5 试验步骤5.1按硒鼓的类型，将热箱和冷箱的温度调整控制在表1规定的值。表 冷箱温度T,试验条件热箱温度Ta试验室温度循环次数硒鼓类型℃℃℃次Se, Se-Te25±11-20±115~251Ae2Se370± 1-25±115~35105.2将不带任何包装的硒鼓试样在试验室环境温度下直接放人热箱内。5.3硒鼓试样放在热箱内放置1h。5.4将硒鼓试样从热箱中取出，迅速放人冷箱内，从热箱转换到冷箱的时间应不超过30s。5.5硒鼓试样在冷箱内放置1h5.6将硒鼓试样从冷箱中取出，在试验室的环境温度下放置30min，在此时间内用放大镜或目视检查硒鼓膜层表面有无脱落、隆起、龟裂。如出现上述任一现象，则中止试验，判定膜层附着力不合格。5.76.2～6.6构成一个循环（见图1）。按表1规定的次数进行循环。 JB/T 5533--2007一个循环温度127a室温时间A-——循环起点；T。—，—热箱温度值；T——冷箱温度值；t——试样在热箱及冷箱内的放置时间;z—！一试样从热箱到冷箱的转换时间；3一一试样在实验室内的放置时间。图16 试验报告报告应包含下列内容：a）试验依据；b）产品名称（本标准号);c）生产厂家或委托试验单位；d）生产日期;e）样品编号；f）试验条件及日期；g）试验结果及判定；h）试验人员签名。2 5533-2007JB/T中华人民共和国机械行业标准静电复印硒鼓膜层附着力试验方法JB/T 5533--2007*机械工业出版社出版发行北京市百万庄大街22号邮政编码：100037210mm×297mm·0.25印张·8千字2008年3月第1版第1次印刷*书号：15111·8838网址: 编辑部电话：（010010)销中心电话：封面无防伪标均为盗版版权专有侵权必究