《定位X线头影测量学》课程教学大纲.doc

定位X线头影测量学课程教学大纲 （X-ray Cephalometrics） 学 时 数：48 其中：实验学时：20 课外学时： 0 学分数：3 适用专业：口腔医学本科 一、课程的性质、目的和任务 《定位X线头影测量学》属于专业课，是口腔各专业，特别是口腔正畸、正颌外科、口腔修复等专科临床诊断、治疗设计及研究工作的一个重要手段。此外，X线头影测量技术还可以用于人类学、考古学的研究，以及公安侦察工作。 该学科的目的是通过在X线头颅定位像上描图、对一定的线距、角度及线距比进行测量分析，使我们能从牙、颌、面的表面形态了解内部结构，有助于我们对牙颌畸形患者的诊断和矫治设计及疗效评价。 通过授课、示教等方法，使学生: 掌握《定位X线头影测量学》的基本理论、基本知识； 了解其基本技能，达到教学大纲的要求； 可独立地对错合畸形患者进行常规定位X线头影测量分析； 对常见错牙合畸形的防治提供一定的咨询； 为毕业后继续教育（研究生教育和进修）打下基础。 二、课程教学的基本要求 （一）X线头影测量绪论 掌握:X线头影测量技术与相关学科的关系;X线头影图的描绘 熟悉:头颅定位X线照相 了解:X线头影测量发展简史 （二）常用X线头影测量标志点和平面 掌握:常用颅部、上颌、下颌标志点的定点及意义 熟悉:常用头影测量平面的确定及意义 了解:软组织侧貌标志点及测量平面的描绘 （三）常用X线头影测量项目 掌握:常用硬组织测量项目的测量 熟悉:硬组织测量项目的意义 了解:软组织面型和唇型分析 （四）常用X线头影测量分析法 掌握:Tweed分析法; Downs分析法;Steiner分析法;北京大学口腔正畸科临床综合分析法 熟悉: Wylie分析法; Wits分析法 了解:头影图迹的重叠分析法 （五）X线头影测量的应用 掌握:X线头影测量的主要应用领域 熟悉:关于X线头影测量可靠性问题 了解:电子计算机化的X线头影测量 三、课程的教学内容、重点和难点 第一章 X线头影测量绪论 一、概述 （一）X线头影测量技术简介 （二）与相关学科的关系 二、X线头影测量发展简史 三、头颅定位X线照相 四、X线头影图的描绘 重点：X线头影图的描绘 难点：头颅定位X线照相; X线头影图的描绘 第二章 常用X线头影测量标志点和平面 一、常用X线头影测量标志点 （一）颅部标志点(N,S,P,Ba,Bloton点) （二）上颌标志点(Or,ANS,A,Pr,UI,Ptm,PNS点) （三）下颌标志点(LI,Id,B,Po,Gn,Me,D,Go,Ar,Co点) （四）软组织侧貌标志点(G,N′,Ns,Sn,UL,Stom,LL,Pos,Gs,Mes,C点) 二、常用X线头影测量平面 （一）基准平面定义及内容(SN,FH,Bolton平面) （二）测量平面的确定(腭平面,全颅底平面,OP平面,MP平面,RP平面,NP平面,Y轴) （三）软组织测量平面(软组织面平面,审美平面,H平面) 重点：硬组织标志点及平面的确定及意义 难点：软硬组织标志点及平面的确定 第三章 常用X线头影测量项目 一、概述 二、常用X线头影测量项目 （一）上下颌骨的常用测量项目 （二）上下前牙的常用测量项目 （三）面部高度的常用测量项目 重点：上下颌骨及前牙的常用测量项目 难点：各测量项目的意义 第四章 常用X线头影测量分析法 一、概述 二、常用X线头影测量分析法 （一）Tweed分析法 （二）北京大学口腔正畸科临床综合分析法 （三）Downs分析法 （四）Steiner分析法 （五）Wylie分析法 （六）Wits分析法 （七）头影图迹的重叠分析法 重点：Tweed分析法; Downs分析法; Steiner分析法；北京大学口腔正畸科临床综合分析法的内容及意义 难点：各分析法的应用及意义 第五章 X线头影测量的应用 一、概述 二、X线头影测量的应用及进展 （一）X线头影测量的主要应用领域 （二）关于X线头影测量可靠性问题 （三）电子计算机化的X线头影测量 重点：X线头影测量的主要应用领域 难点：电子计算机化的X线头影测量的应用 四、课程各教学环节要求 （一）在本课程的学习中，本门学科的基础理论、基本知识、基本技能要在教学过程中得以保证。对于一些尚未得到统一认识的问题，或不成熟的理论，教师要介绍各个学派的见解，也可阐述自己的学术观点。 （二）本课程教学环节除讲课外还有实验课、实验报告，实验课是培养学生基本技能和增强感性认识，便于在理解的基础上掌握所学知识的主要手段。通过本课程的实验训练，使学生达到如下要求：可独立地对错牙合畸形患者进行常规定位X线头影测量分析; 对常见错牙合畸形的防治提供一定的咨询; 为今后继续教育打下基础. （