LED芯片寿命试验过程全解析.docx

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第 第 1 页 LED 芯片寿命试验过程全解析 LED 具有体积小,耗电量低、长寿命环保等优点,在实际生产研发过程中,需要通过寿命试验对 LED 芯片的牢靠性水平进展* 价,并通过质量反响来提高LED 芯片的牢靠性水平,以保证LED 芯片质量。 1、引言 作为电子元器件,发光二极管(LightEmittingDiode-led)已消灭40 多年,但长期以来,受到发光效率与亮度的限制,仅为指示灯所承受,直到上世纪末突破了技术瓶颈,生产出高亮度高效率的LED 与兰光 LED,使其应用范围扩展到信号灯、城市夜景工程、全彩屏等,供给了作为照明光源的可能性。随着 LED 应用范围的加大,提高 LE

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