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本申请公开了一种芯片测试装置及芯片测试方法，该芯片测试装置包括控制模块、采样电阻链、第一高速切换矩阵以及第二高速切换矩阵，通过第一高速切换矩阵、第二高速切换矩阵根据对应的第一切换控制信号、第二切换控制信号可以快速切换不同的待测试管脚对，与传统数量庞大的继电器切换测试管脚相比，具有更高的管脚对切换效率，进而有利于提高管脚测试效率；且以管脚对为最小单位进行测试，每次管脚切换至少可以进行两个管脚的测试，增加了每次测试的管脚数量，有利于进一步提高芯片测试效率。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113759239 B
(45)授权公告日 2022.02.15
(21)申请号 202111316660.7 (51)Int.Cl.
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