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本申请提供一种阵列天线的设计方法、设备、系统及存储介质。该方法包括:获取阵列天线在各频率和/或各倾角下的各单元近场幅相系数及阵列信息;利用幅相系数和阵列信息进行近远场变换,输出阵列远场方向图及辐射性能测试指标;当阵列远场方向图及辐射性能测试指标不满足设计指标要求时,改变馈电网络的馈电长度以调整单元的馈电附加相位;基于调整后的馈电附加相位重新进行近远场变换及指标判断,直到满足设计指标要求。本申请能够减少远场测量的次数,缩短设计周期。并引入虚拟调节技术,达到实时计算改变幅相系数后的远场辐射性能的变化
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113449439 B
(45)授权公告日 2022.04.01
(21)申请号 202110994478.0 (56)对比文件
(22)申请日 2021.08.27
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