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本发明公开了一种X射线荧光光谱法测定白刚玉中杂质组分含量的方法，步骤包括：样品磨制；样品压制；用PET膜紧密包裹压片；设置各元素最佳测定条件；以白刚玉、棕刚玉和氧化铝标准样品按照不同的比例，配制成各检测元素含量从低到高具有一定梯度的白刚玉标准样品，对其拟合校准曲线，建立了X射线荧光光谱法同时测定白刚玉中SiO2、CaO、Fe2O3、K2O、Na2O、TiO2、P2O5含量的快速分析方法。该方法通过人为配置白刚玉标准样品，使检测范围更接近白刚玉杂质含量范围；同时通过PET膜包裹压片样品，以减少粉尘
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113447330 A
(43)申请公布日 2021.09.28
(21)申请号 202110737326.2
(22)申请日 2021.06.30
(71)申请人 中国一冶集团有限公司
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