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一种基于功能安全的测试方法.pdfVIP

一种基于功能安全的测试方法.pdf

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    本发明提供了一种基于功能安全的测试方法，包括以下步骤：S1、输入待测安全模块；S2、搜索芯片安全机制库和功能安全测试用例库；S3、选定待测安全模块全部安全机制和测试用例表；S4、确定全部待测安全机制对应的故障模型和失效模式；S5、利用所述安全机制对应的故障模型和测试脚本模板文件，生成选定待测安全模块的所有故障注入测试脚本。本发明有益效果：本发明是基于功能安全测试流程的要求，通过对芯片安全机制库、功能安全测试用例库、故障注入测试脚本库和失效模式库的建立，大大缩短了同类型芯片功能安全测试的时间，考虑

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113535547 B (45)授权公告日 2022.08.02 (21)申请号 202110682645.8 (74)专利代理机构 天津企兴智财知识产权代理

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