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本申请涉电路测试，提供了一种用于定位高密度电路故障位置的电路和故障测试方法，电路包括：第一测试图形包括：一个一级测试点以及多个用于连接所述高密度电路第一侧的偶数端子的末级测试点，其中每个所述末级测试点连接两个以上的所述偶数端子，所述一级测试点与所有所述末级测试点通过线路连接；第二测试图形，包括用于连接所述高密度电路第二侧的奇数端子的第二侧测试点；其中，所述第一测试图形和所述第二测试图形分别加载具有电势差的电压，并根据所述高密度电路的电路参数判断所述故障位置。能够快速定位到高密度电路的故障线路，提
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113391189 B
(45)授权公告日 2023.03.31
(21)申请号 202110556791.6 G01R 31/52 (2020.01)
(22)申请日 2021.05
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