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本发明提供一种直流GIL绝缘子表面电荷积聚严重程度快速评估方法,包括如下步骤:绝缘子采用无水乙醇清洗后,安装于GIL试验管道内,其中所述GIL试验管道包括密闭腔体,所述绝缘子放置于所述密闭腔体内;将所述GIL试验管道抽真空后,充入预设气压的绝缘气体;采用X射线第一次照射所述绝缘子表面,以移除所述绝缘子表面残留的电荷;在所述绝缘子上施加电压,采用X射线第二次照射所述绝缘子表面;断开所述绝缘子上的电压,采用静电计测量所述绝缘子表面的电势分布,利用所述绝缘子表面的电势表征电荷分布评估所述绝缘子表面电荷
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113311252 A
(43)申请公布日 2021.08.27
(21)申请号 202110417544.8
(22)申请日 2021.04.19
(71)申请人 湖南大学
地址 41
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