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本公开提供了一种半导体结构及其制备方法、三维存储器,涉及半导体芯片技术领域,旨在提高三维存储器的良率。半导体结构包括堆叠结构、多个连接部和多个接触部。堆叠结构包括交替层叠的多层栅极层和多层介质层。多个连接部,位于字线连接区;连接部包括远离堆叠结构的第一端面,第一端面呈中空的封闭形状。多个接触部位于字线连接区,一个接触部与一个第一端面接触,且接触部在参考面上的正投影的最大尺寸大于或等于第一端面的宽度。上述半导体结构应用于三维存储器中,以实现数据的读取和写入操作。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114678369 A
(43)申请公布日 2022.06.28
(21)申请号 202210334271.5 H01L 27/11575 (2017.01)
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