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本发明公开了一种相位调制器的测试系统及测量方法，激光器产生一束激光经MZ干涉仪分为两路光信号；将上路光信号输入待测的相位调制器，待测的相位调制器由两个微波源产生的合路微波信号对光信号进行调制；将下路光信号输入移相器后，上下两路光信号合路后经过光电探测器转换为电信号，并得到对应的电谱图和功率参数，根据功率参数可以计算得到调制相位、调制系数及半波电压。本发明通过双源移相自外差的测量方法，能够完成对光电探测器响应度的消除实现自校准测量，有效提高了测量精度；同时，本发明设计的系统还能通过改变移相器移相值
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113225126 B
(45)授权公告日 2022.08.19
(21)申请号 202110509287.0 (51)Int.Cl.
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