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本发明提供了一种基于残差网络的分子筛SEM图像分类方法和系统。分类方法包括如下的步骤：构建SEM图像样本库；基于经过类别标注的多个SEM图像的全部或其中一部分，构建SEM图像类别数据集；构建残差网络图像分类模型，并根据SEM图像类别数据集中的SEM图像对残差网络图像分类模型训练；以及利用训练后的残差网络图像分类训练模型对多个SEM图像和/或重新拍摄的分子筛SEM图像进行分类。本发明的一种基于残差网络的分子筛SEM图像分类方法和系统可以简单方便并且高准确性的对分子筛图像质量和形貌进行筛选分类。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113159231 A
(43)申请公布日 2021.07.23
(21)申请号 202110559942.3
(22)申请日 2021.05.21
(71)申请人 华东理工大学
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