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本发明公布了一种胶体印迹碳(CICs)，同时公布了在保持其多孔微观有序结构的基础上调控其孔喉尺寸的方法。该CICs表达式为：CIC‑X‑Y，其中，X为孔喉尺寸大小，Y为产品的孔径尺寸大小，X可在一定范围内调整。在确保不影响孔径、孔结构和元素组成的基础上，采用特殊工艺合成了不同孔喉尺寸的胶体印迹碳(CICs)，实现了对CICs孔喉尺寸的调控。研究发现，CIC孔喉尺寸的截面积与通道内离子扩散速度呈线性关系，因此调整孔喉尺寸对于材料得电学性能具有重要的正面影响；而且，本发明的提出的CICs的三维模型，
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113178336 B
(45)授权公告日 2022.06.17
(21)申请号 202110459653.6 (51)Int.Cl.
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