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本发明提供了一种薄膜类产品的分拣方法、分拣系统、及漏检率的预估方法，该预估方法包括：使用AOI设备对每卷膜材进行非接触式、实时检测；提取AOI检测数据和喷码机喷码信息，获得AOI检测缺陷坐标位置、喷码坐标信息，然后将卷材按照实际片状成品的切片尺寸、切片方向进行模拟分块切割，得到分割图，计算出卷材的良率x、喷码率z；采用如下公式计算得到漏检率F(x,y,Z,m)
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113096078 A
(43)申请公布日 2021.07.09
(21)申请号 202110326951.8
(22)申请日 2021.03.26
(71)申请人 深圳市盛波光电科技有限公司
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