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本发明涉及一种故障容错性测试方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取待测试验数据，将待测试验数据复制得到待测对照组数据；将待测试验数据和待测对照组数据分别输入至第一FPGA状态机和第二FGPA状态机中进行翻转和直接输出，得到第一试验输出数据和对照组输出数据并进行对比，根据比较结果确定第一FPGA状态机的第一输出状态；当第一输出状态为所述第一试验输出数据和所述对照组输出数据不一致时，重新进行试验得到第二试验输出数据并与对照组输出数据进行对比并根据所述第二比较结果确定所述第一FPGA状态机的
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114910780 A
(43)申请公布日 2022.08.16
(21)申请号 202210329625.7
(22)申请日 2022.03.31
(71)申请人 武汉工程大学
地址 430000
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