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本发明公开了一种FLASH芯片检测设备及其检测方法,涉及芯片检测技术领域。包括检测装置、连接插口和连接插头,所述检测装置的顶部固定有芯片插块,所述检测装置的底部固定有固定座,所述固定座的底部固定有移动底座。该FLASH芯片检测设备及其检测方法,当对检测装置进行移动时,通过将连接插头插进连接插口中,进而可以启动气缸,使活塞杆向下移动,进而使吸盘向下移动与地面贴合对检测装置进行支撑,当吸盘远离推杆时,因第二弹簧处于压缩状态,通过限位机构的配合,使限位块向上移动,使限位块对连接座的右侧进行限位,防止不
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114487776 A
(43)申请公布日 2022.05.13
(21)申请号 202210080839.5
(22)申请日 2022.01.24
(71)申请人 视旗科技(深圳)有限公司
地址 5
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