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本实用新型涉及探针使用寿命检测领域，具体涉及一种晶振电性能测试用探针寿命检测装置，包括：一底座，一测试平台，装置于所述底座上；一支架，装置于所述底座上，所述支架上设有一轨道滑轮；一步进电机，与所述支架固定连接，并与一配电柜电性连接；一滑块，装置于所述轨道滑轮上；一网络分析测试模块，设置于所述滑块上，通过一网络分析高频线连接到一终端设备；一探针定位座，连接所述网络分析测试模块；所述配电柜通过一通讯线连接所述终端设备上。本实用新型能够自动完成探针寿命的检测，减少人力资源，同时多探针寿命检测更为准确，
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 213023245 U
(45)授权公告日 2021.04.20
(21)申请号 202020287443.4
(22)申请日 2020.03.10
(73)专利权人 杭州鸿星电子有限公司
知识产权出版社有限责任公司（原名专利文献出版社）成立于1980年8月，由国家知识产权局主管、主办。长期以来， 知识产权出版社非常重视专利数据资源的建设工作， 经过多年来的积累，已经收藏了数以亿计的中外专利数据资源。
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