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ICT测试原理 ⑴ 电阻测试 R=U/I ⑵ 电容量测试 ⑶ 电感量测试 ⑷ 二极管测试。正向测试二极管时,加入一正向电流,硅二极管的正向压降约为0.6V~0.7V;若加一反向电流,二极管的压降会很大。 ⑸ 三极管测试,分三步测试三极管。 ⑹ 跳线测试。 ⑺ 测试集成电路 * 第六十一页,共一百零三页。 ICT编程(选学内容,建议学生自学) 电阻元件编程:在“T”栏输入“R”;在“Part name”处输入元件图号,如R1;在“Ideal”栏输入标称值,如R1是1kΩ;在“Pin1”、“Pin2”输入其引脚相对应的针号;“%”、“T+”、“T-”栏输入该电阻的误差范围,“W”栏输入测试方法“I”(普通测试方法),如果电阻在电路中与一个电解电容器并联(如图5.22(a)所示),则因测试方法“I”的测试时间很短,电容器充电需要一定时间,将会出现测试误差,只要将“W”栏中的“I”改为“V”,再加一定的延时时间“dms”,如20ms,则测试结果就与实际值相同了。 * 第六十二页,共一百零三页。 隔离点 测量电阻时,有时因为电路关系,需增加一隔离点,如图5.22(b)所示:电阻R1和R2、R3并联,当在顶针1、2位测试R1的阻值时,测试结果不是1kΩ,而是500Ω。这是由于从1号顶针位流入的电流I有一部分流入了R2、R3支路了。要解决这一问题,可以选择在3号位增加一顶针“3”,使“3”号顶针的电位和1号顶针的电位相等。那么,R2、R3支路就不会使1号顶针的电流分流,测试结果也就准确了。“3”号顶针就叫隔离点。编程对地“G”处填入“Y”,表示启动隔离功能。在“G1/4~G5”处填入“3”,表示“3”是隔离点。 * 第六十三页,共一百零三页。 电容测试 电容类元件有两种测试方法。容量100nF以下的小电容,用交流(AC)测试。在“T”填入“C”,“Part name”填入元件图号,“Ideal”填入标称容量,在“Pin1”、“Pin2”填入引脚的对应测试针号,“W”填入“A”,即AC测试方法,“Freq”填入测试频率(默认为30kHz),“%”、“T+”、“T-”填入相应的误差值,其他按默认值。 大容量的如电解电容器,在“W”填入“D”,即DC测试方法,“Dms”填入适当的延时时间,如30,表示延时30ms。 * 第六十四页,共一百零三页。 * 第六十五页,共一百零三页。 测试针床 * 第六十六页,共一百零三页。 产品测试 录像 * 第六十七页,共一百零三页。 4. ICT编程与调试 返回 * 第六十八页,共一百零三页。 5.2.4 飞针测试仪 飞针测试仪是一种高精度的移动探针测试设备,通常用在专业印制板生产厂检测多层板的金属化孔质量,或在电子产品制造厂检测高密度组装的SMT产品焊接质量。作为小批量产品的高端检测设备,它的工作原理是,在固定在测试架上的印制板两侧,用快速移动的成对探针同时移动到同一位置上,测量电路的连接状态(电阻)。 与ICT测试方法相比,飞针测试仪避免了为小批量产品专门制作昂贵的测试针床,只需要根据产品特性编程或直接输入电路板的CAD或EDA设计文件。 * 第六十九页,共一百零三页。 * 第七十页,共一百零三页。 5.2.5 清洗工艺、清洗设备和免清洗焊接方法 * 第七十一页,共一百零三页。 5.2.6 SMT生产线的设备组合与计算机集成制造系统(CIMS) 中、小型SMT自动生产流水线设备配置平面图 * 第七十二页,共一百零三页。 计算机集成制造系统(CIMS,COMPUTER INTEGRATED MANUFACTURING SYSTEM) 是将设计工程、管理工程、生产工程有机地连接到一起的系统工程,也叫做计算机综合生产系统。它是利用现代的信息技术、自动化技术与制造技术,通过计算机软硬件,将企业的经营、管理、计划、产品设计、加工制造、销售服务等环节和人力、财力、设备等生产要素有机地集成起来,以形成适用于小批量、多品种生产需求并能实现总体高效益的智能化制造系统。 * 第七十三页,共一百零三页。 ① 制作焊锡膏丝网 * 第二十九页,共一百零三页。 图5.2 漏印模板印刷法的基本原理 * 第三十页,共一百零三页。 ②丝网漏印焊锡膏 手动刮锡膏 * 第三十一页,共一百零三页。 自动刮锡膏 * 第三十二页,共一百零三页。 自动刮锡膏 * 第三十三页,共一百零三页。 * 5.1.2 SMT元器件贴片工艺和贴片机 第三十四页,共一百零三页。 自动贴片机以日本、欧美和韩国的品牌为主,主要有:FUJI(富士)、SIEMENS(西门子)、UNIVERSAL(环球)、PHILIPS(飞利浦)、PANASONIC(松下)、YAMAHA(雅马哈)、CASIO(卡西欧)、SONY(索尼)、SAMSUNG(
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