广达650FEG扫描电子显微镜FEI公司-成分分析.pdf

产品数据 QuantaTM 650 FEG 查看真正的高分辨率多功能扫描电子显微镜 (SEM) 具有何种功能 TM FEI Quanta 可用于研究各种材料并表征材料的结构与成分，同时提供无与伦比 的灵活性，提高了性能与通用性，可应对当今广泛研究领域的各种挑战，满足多 方需要。观察样品，获取所有相关数据：将显微镜附件与表面形貌和成分图像结 合使用，确定材料特性及其化学元素组成。 当前的研究材料已不止是简单的金属和涂层样品。而 Quanta 系列能够轻松解决 此类挑战，确保提供最优质的图像和分析。FEI Quanta 50 系列是先进和灵活的解 决方案，可应用于现在及未来的相关研究中。此系列采用三种成像模式 – 高真 空、低真空和 ESEMTM 模式，可使 SEM 系统样品包括最广泛的类型。这些仪器经 专门设计，可从各类样品（无论有无制备）中获取最丰富的成像和显微分析数 据。适于表征的材料从传统样品如金属、断口和抛光片一直到非导电软材料。 Quanta 50 系列是第三代 Quanta 系统，其建立在已获成功的前代 ESEM Schottky FEG 产品的基础上。Quanta 系列具易用且灵活的用户界面，可最大限度提高工 主要优点 作效率，并实现对所有数据的收集。该仪器系列的设计源于显微镜工作者， • 采用环境扫描显微 (ESEM) 技术，打造唯一的 并用于显微镜工作者，是一款真正超越 “易用性”的产品。导航功能包括自 高分辨率 FEG-SEM 产品 • 可表征导电和非导电样品，且在各操作模 动 Montage 导航、样品台移动双击控制、拖放变焦和其他有用的标准结合功 式下均可能实现二次电子 (SE) 和背散射电子 能。SmartSCANTM 技术采用智能扫描策略，可减少噪声，提供最优质的数据。其 (BSE) 成像 TM 他新功能包括可提高低加速电压 (kV) 性能的射束减速功能、Nav-Cam 彩色图像 • 最大限度减少样品制备量；低真空和环境扫 导航和使 Quanta FEG 系列具备更大灵活性的新型伸缩式检测器等。 描 (ESEM) 功能可实现无电荷成像，并能实现 对绝缘样品和含水样品的分析 更优质的数据。更大的灵活性。更高的效率。通用型 FEG ESEM 如今正式面市。 • 在 Quanta 的 “经由透镜抽气”专利技术产 生的高真空和低真空环境中对导电和非导电 样品进行能谱 (EDS) 和电子背散射 (EBSD) 分 析，以提高分析能力。稳定的高射束电流 （达到 200 nA ）可实现快速、准确的分析 • 在专用原位样品台上可对各种保持自然状 态的样品进行动态原位分析，分析温度高 于或低于环境温度，变化区间从 - 165 °C 到 1500 °C • 使用可选的射束减速模式能进行表面成像， 以从导电样品中获取表面和成分信息 • 易用，直观的软件让新手也能高效