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设计说明书
设计任务
零件结构图
图1.零件结构图
设计要求
(1)孔是否已加工?
(2)面A和B是否已加工?
(3)孔φ15±0.01精度是否满足要求?
(4)凸台外径φ40±0.012精度是否满足要求?
(5)零件质量20±0.01kg是否满足要求?
(6)产品标签(白色)是否帖正或漏帖?
(7)如果不合格将其剔除到次品箱;
(8)对合格产品和不合格产品进行计数。
3、工作量
(1)设计一套检测装置,能完成所有检测内容;
(2)说明书一份,说明各个检测内容采用什么传感器,如何实现;
(3)自动检测流程图一份。
4、设计内容及说明
要求将检测装置画出,能完成所有检测内容;在完成自动检测功能的基础上,要求费用最少,以提高经济效益;检测装置结构简单可靠、易于加工和实现;自动检测流程图要求详细正确。
设计方案
根据设计要求,该自动检测生产线应具备形状识别(检测圆孔和平面是否加工)、孔径检测、凸台外径检测、质量检测、标识检测等功能,故初步设计该生产线应具有5道检测工序。在每个检测工位上都对应有一个废品下料工位,将不合格品剔除到废品传送带上,同时最后还要对合格产品和不合格产品进行计数,故初步预计该生产线共有12个工位(5道检测工位、5道废品下料工位和2道计数工位)。所有这些工位均匀分布于检测线上(以便准确定位)。整个检测线应用机电一体化技术,综合控制各道工序的检测工作,包括零件的搬移、检测设备的动作、数据连接、检测结果处理、不合格工件的下料处理等。检测生产线线基本结构如图2所示:
图2.零件质量检测系统基本结构图
1、判断孔和平面A、B是否加工的方案
由于设计要求中只要求检测孔和平面是否被加工,而无需检测它们的大小和精度,因而可采用价格相对低廉的光电传感器进行检测,其检测方法如图3所示。
图3.光电开关检测原理 图4.面A、B未加工时零件的形状
(a)检测光电传感器检测孔是否加工 (b)检测光电传感器检测平面A、B是否加工
图5.检测光电传感器检测孔和平面是否加工原理图
具体的检测原理图如图5.所示。在图5(a)中,当光电传感器发出的光通过孔时,孔下方的信号接收装置就能够接受到光信号,进而转换为电信号,从而判断是否孔是否已加工。在图5(b)中,若工件面A或面B未加工(即零件下部为圆盘形状,如图4.所示),则光电传感器发出的光信号无法被工件下方的传感器接收到,从而判断工件面A或面B未加工,若工件的表面A及面B都已加工,则工件A、B两侧下方的传感器都能够接收到光信号,从而转换为电信号,进而判断面A、B都已加工。
因此,在检测工位1上按一定的位置要求放置3个光电传感器,就可以检测孔和平面A、B是否已加工。
孔径精度的检测方案
图6.三点式平均直径测定原理
孔径精度的测量原理如图6所示,采用三点式平均直径测定原理进行测量。具体的测量方法如下所述:设计一个类似于塞规的测定杆,在测定杆的圆周上沿半径方向放置三个电感式位移传感器,通过测定孔内径上的三个被测点W1、W2、W3测出平均圆直径。在测定杆处相隔?、Ф角装上三个电感式位移传感器,用该检测器可测出间隙量y1、y2、y3。已知测定杆的半径r,则可求出:
根据三点式平均直径测定原理,平均直径D0可由下式求出。
式中a、b为常数,由传感器角度?、Ф决定,该测定缸最佳配置角度为?=Ф=125°,取a=b=0.8717。
该测量方式测量精度比较高,同时可消除室温变化引起的误差,其精度可达到±2um,而内孔的公差要求为±10um,故该测量装置可以满足检测要求。
凸台外径精度的检测方案
凸台外径精度可以用CCD传感器来检测,其检测原理如图7.所示。CCD,即电荷耦合器件,是一种特殊的半导体器件和新型的固体成像器件,由一系列排列紧密的MOS电容器组成,其突出特点是以电荷作为信号。CCD 芯片上有许多光敏单元,它们可以将不同的光信号转换成电荷输出,从而形成对应原始光图像的电荷图像。当被测工件放置在线阵CCD前端时,光学系统会把被测工件成像在CCD的光敏面上。在CCD驱动信号的作用下,被测工件与背景在光强分布上的变化被反映在CCD 输出的视频信号中。利用线阵CCD测量工件直径的原理框图如图8所示,测量装置简图如图9.所示。
图7.CCD成像过程
图8.CCD测量直径原理框图
图9.用CCD测量零件直径装置简图
在视频信号中,每一个离散电压信号的大小均对应该光敏元接收到的光强,被测工件的影像大小反映在CCD输出信号中电压的高低上,即在CCD中间被工件遮挡部分对应的光敏元输出电压为低,两侧未被遮挡的光敏元输出电
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