PhotoStressPlus光应力测试系统.PDFVIP

LF/Z-2 ® PhotoStress Plus 光应力测试系统 ——应力分析测试中的全域解决方案 什么是光应力（PhotoStress ） 光应力是一种流行的及被广泛使用的技术，用于 测量表面应变，以便确定静、动态测试中零件或结构 上的应力。 当使用光应力方法时，首先将一种对应变敏感的 有可塑性的特殊涂层粘贴在需要测试的部件上；然后 加上载荷，把从反射偏振器中发出来的偏振光照射在 涂层上进行测试。当通过该偏振器观察时，涂层将通 过带有颜色指示的图案展现出该部件上的表面应变， 这种图案可以立即展现出整个覆盖区域的全域应变 （或应力）分布。 如果把一个配有计算机软件的光传感器（电子补 偿器）安装在该偏振器上，则在被测部件的任何一点上，可以快速简便地进行定量的应力分析。同样， 如果使用数字摄像技术，则通过计算机网络的传输，他人也可同时观看到测试期间展现的光应力图案和 获得的计算结果。 功能 对于任何零件或结构的应力分析，光应力测试提供了一个既精确又经济的手段，而且无需考虑被测 ® 部件的复杂性或材料的复合情况。用PhotoStress Plus 光应力测试系统，你能： ◆ 立即识别出临界区域、明显的应力超强和应力不足的区域。 ◆ 测量主应力方向和主应力大小。 ◆ 精确测量峰值应力和确定环绕在孔、槽口、内圆角及其它潜在故障点周围的应力集中情况。 ◆ 用最小载荷获得最大可靠性，对应力分布进行优化设计。 ◆ 在改变负载情况下，可重复测试，而不用重新粘贴涂层。 ◆ 在实验室或户外进行应力测量，不受湿度和时间的影响。 ◆ 探测屈服点并且测量装配应力和残余应力。 光应力 （PhotoStress ）和有限元分析 （FEA） 随着当今计算机软件程序的发展，有限元分析 （FEA）被广泛用于帮助解决复杂应力问题。但是， 在结构完整性极大化的设计过程中和把产品推向市 场时，都需要鉴定测试，以便验证计算结果。 光应力测试是一个验证数值计算结果精度的极 佳工具，同时还可作为改进有限元分析模型的指南。 左图为汽车悬挂单元的实例： 1、启用FEA 模型分析 2、实际原型样机部件的光应力分析 3、基于光应力分析结果修正FEA 模型 Document Number: 11218 @ 1 LF/Z-2 ® PhotoStress Plus 光应力测试系统 ® PhotoStress Plus 光应力测试系统，是一个实施光弹性涂层分析的完整系统。它具体表现为如下特 点： ◆ 新型的LF/Z-2 型反射偏振器，其特点为操作简便且不需要任何光测弹性学基础知识。 ◆ 作为偏振器整体组成部分的数字摄像机，可以实现在计算机或电视监视器上观看光应力图案， 并记录为静止画面或动态的图像。 ◆ 一种新的配有特