基于单片机直流低电阻测试仪的设计毕业论文设计正文(终)文档.doc

CHANGZHOU INSTITUTE OF TECHNOLOGY 毕 业 设 计 说 明 书 题目 基于单片机直流低电阻测试仪的设计 二级学院： 延陵学院 专 业： 电气工程及其自动化 班级： 11电Y3 学生姓名： 史育 学号： 指导教师： 郭建江 职称： 副教授 评阅教师： 职称： 2015年 6 月 摘 要 直流低电阻测试是变压器在交接、大修和改变分接开关后必不可少的实验项目。在通常情况下，用传统的方法（电桥法和压降法）测量变压器绕组以及大功率电感设备的直流低电阻是一项费时费力的工作，同时被测的直流低电阻有可能相当小，可达到毫欧姆数量级，更是增加了测量的难度。为了改变这种情况，缩短测量时间以及减轻工作人员的负担而研制开发的直流低电阻测试仪。 本文设计了以STM32F030R8T6单片机做为数据处理和控制核心的直流低电阻测试仪设计方案，该直流低电阻测试仪釆用恒流源测电阻的方法，给待测电阻提供一个恒定电流，16位模数转换A/D采集待测两端的电压，通过将转换后的采样值送入单片机进行数据处理来确定其电阻值。单片机通过对数字信号处理，完成电阻测量功能和自动换档功能并在数码管上显示。论文从硬件和软件两个方面介绍了设计的实现方法，其中硬件设计的重点是单片机最小系统的设计、A/D转换器的合理选择、恒流源电路、自动档位选择电路。软件设计的重点是电阻测量算法的设计。经测试表明，该系统的指标达到了要求，工作可靠，操作简单，用户界面友好。 关键词 ： 直流低电阻测试仪 ，恒流源， 自动换档， MCU， Abstract DC low resistance test is the essential test items of transformer after the handover, overhaul and change tap-changer.Under normal circumstance,With the traditonal method(bridge method and pressure drop method) measurement and large power transformer winding dc low resistance a time-consuming work. thus fairly measured the DC resistance of the small, milliohm orders of magnitude can be achieved, but also increases the difficulty of measurement. In order to change this situation, reduce measuring time and reduce the burden on staff and to develop the DC low resistance tester. This design adopt STM32F030R8T6 high-speed microcontroller as core of DC low resistance test instrument project design , the DC low resistance test instrument spectacular with constant flow source measuring resistance of method, to stay measuring resistance provides a constant current, 16 bit module conversion A/D collection stay measuring ends of voltage, after conversion of sampling value into single tablets machine for data processing to determines its resistance value. Single chip microcomputer based on digital signal processing, complete resistance measurement funct