Testing in the Fourth Dimension - 北方工业大学多模式教学网站.ppt

* 下面，再对测试的目标作进一步的分析和细化。 故障可以简单地理解为由物理缺陷引起的某种不正常的效应 VLSI测试的层次目标： 1、探测：是否存在 2、诊断：识别、定位 3、失效模型分析：确定原因 现在IC的设计和制造是分工合作完成的。在上述设计流程中： 综合、验证以上的环节都可以由专业设计公司独立完成； 布局、布线等版图设计和制造商联系更紧密； 测试则跨越设计和制造两大环节：探测、诊断所需测试激励由设计者产生；探测、诊断和失效分析的实施则由制造商完成；有时需要一定的互动 * 另外，受EDA设计工具和设计语言的影响，在VLSI设计中，验证和测试是两个容易混淆的概念。 为了进一步明晰测试的地位和作用。 我们有必要对比分析一下这两个概念： 1、对象不同 ---- 验证-〉确认设计的正确性；测试-〉确认生产的正确性 2、过程和方法不同 ----验证-〉软件模拟、硬件仿真、形式验证 ；测试-〉设计、生成、应用 3、时机不同 ---- 验证-〉生产前 ；测试-〉全过程 4、作用不同 ---- 验证-〉负责设计质量 ；测试-〉负责产品质量 * 上面的讲述后，我们对测试的角色可能还有的不太清晰 下面就对照考试模型，来条理化地总结一下 《照着进行简单的总结和解释〉 明确了测试的角色，下面，我们来讲第三个大问题，即了解VLSI测试技术中的一个重要内容---- 测试的评价标准 * VLSI测试的评价准则是coverage --- 覆盖率，即能探测到的缺陷或故障数量占总的可能存在的缺陷或故障数的百分比。 显然，理想的测试是能获得100%的缺陷覆盖率，即： 1、探测生产过程产生的所有缺陷 =〉考察出所有学生可能犯的错；不放过一个坏人 2、所有功能正确的器件都通过测试 =〉矫枉过正，知识超出范围；不冤枉一个好人 但实际上难以获得100%的缺陷覆盖率，这是因为： 1、工艺复杂，规模庞大 =〉缺陷的种类多、数量大 =〉高考，面多、点广，难以面面俱到 2、面向缺陷的测试难题 =〉缺乏合适的考试手段 如何解决这个问题呢？ * VLSI测试的评价准则是coverage --- 覆盖率，即能探测到的缺陷或故障数量占总的可能存在的缺陷或故障数的百分比。 显然，理想的测试是能获得100%的缺陷覆盖率，即： 1、探测生产过程产生的所有缺陷 =〉考察出所有学生可能犯的错；不放过一个坏人 2、所有功能正确的器件都通过测试 =〉矫枉过正，知识超出范围；不冤枉一个好人 但实际上难以获得100%的缺陷覆盖率，这是因为： 1、工艺复杂，规模庞大 =〉缺陷的种类多、数量大 =〉高考，面多、点广，难以面面俱到 2、面向缺陷的测试难题 =〉缺乏合适的考试手段 如何解决这个问题呢？ * 我们不妨想一想设计考试是怎样解决知识点琐碎和分散的问题的呢？ 我们会设计各种各样的综合类题目，将琐碎和分散的知识点综合进去，以便于考察。 比如说，题目5+4-7=？，我们可以认为它涵盖了10以内的加减法知识。 与之相似，为解决面向缺陷的测试难题， 人们根据缺陷的故障效应抽象出了各种更高层次的故障模型， 相应地，测试评价准则就变为故障覆盖率。 然而，这又引出新的问题； 1、缺陷和故障之间的相互映射问题； 2、故障模型的完备性问题。 由此产生的后果是《转下一页》 * 《按弹出顺序进行说明至分成好坏器件。〉 由于故障模型及其测试激励的不完备性，就会出现： 一方面，在大多数好器件通过测试的同时，一小部分好器件被拒绝； 另一方面，在大多数坏器件被拒绝的同时，一小部分坏器件通过测试； 显然，这都是我们不希望出现的情况。 前者，会损害代工制造商的利益，增加它们的运营成本； 后者，会损害消费者的利益，损害经销商信誉并增加它们的运营成本； 和考试进行类比。《高考》 有了通用的评价标准，那么，VLSI测试技术具体有哪些方法呢?下面，就进入本次课的第四个内容，测试方法概述。 * 类似于考试的基本形式和题型，如笔试，选择题等 发展至今，VLSI测试也有其基本方法： 1、基本的故障模型 =〉固定故障模型 2、故障模拟 =〉给定电路，给定故障模型，评估给定测试集的故障覆盖率 3、测试生成 =〉给定电路，给定故障模型，自动生成测试集 由于课程时间关系以及课程分工，本课程不再单独详述基本故障模拟和测试生成技术，但在课程各专题内容中会多次提及。只要了解了它们的基本概念、目的和方法，对其它专题的理解不会造成大的影响。 正如一种考试形式或方法不可能考察到学生各个方面的能力一样，这些测试的基本方法也不能解决所有问题： 因为： 一方面，存在一些特殊的电路形式和故障效应； 另一方面，设计规模的膨胀，使得测试复杂性日益提高；空间搜索 =〉Test generation complexity increases exponentially wit