电气绝缘测试技术素材包第四章节局部放电测量.ppt

407D (一) 放电谱图 1. N—q谱图2. N—φ谱图3. q—φ谱图 407D 1. N—q谱图  图4-42　放电谱图a) N—q谱图　b) N—φ谱图　c) q—φ谱图 407D 2. N—φ谱图  图4-42　放电谱图a) N—q谱图　b) N—φ谱图　c) q—φ谱图 407D 3. q—φ谱图 图4-42　放电谱图a) N—q谱图　b) N—φ谱图　c) q—φ谱图 407D (二) 统计算子 1. 相位中值μ2. 不对称度Q3. 偏斜度SK 407D 1. 相位中值μ 描述q—φ或N—φ谱图中放电出现所在的相位中值 407D 2. 不对称度Q 描述q—φ或N—φ谱图中正负半周放电的对称程度 407D 3. 偏斜度SK 描述各种放电谱图的包络线形状 407D (三) 放电指纹 对于一定的绝缘缺陷(放电源)或绝缘老化，在一定的试验条件下，会有相应的放电谱图，因而可以找出几个能区别于其他绝缘缺陷或老化程度的统计参数，组成放电指纹。对于一种产品，通常都会有几种经常出现的绝缘缺陷，如高压塑料电力电缆，经常会出现绝缘层中有气隙、半导体层突出或脱裂、电缆端部放电等。对于这些典型的绝缘缺陷，进行重复多次的测试，并通过统计处理，可以得出几个有效的统计算子，组成一个对应于一定绝缘缺陷的放电指纹。对于不同的绝缘缺陷，可以测得不同的典型放电指纹，并由这些典型的放电指纹组成指纹库。 407D (四) 识别方法 由于局部放电本身是随机性的，同一种绝缘缺陷重复测得的统计算子的数值有较大的分散性，不会完全相同。因此，从试品测得的放电指纹与指纹库中典型放电指纹对比来识别绝缘缺陷的类型时，就要采用合适的统计识别方法。现在已试用的有：概率分类法(置信区间)、距离分类法(马氏距离)、神经网络、模糊识别、专家系统等等。在什么条件下应采用哪种识别方法，还有待深入研究。识别结果只是可能性最大的结果，即属于该种类型放电的概率最大，如果与其他放电类型出现的概率有明显的差异，则可认为就是该类型的放电。 407D (一) 多端测量 表4-5　响应比值表 407D (二) 超声波法定位 (1) 多点测量计算方法　在变压器外壳的同一侧面上，安放m个接收超声波信息的探头，用直角空间坐标标明各探头及放电源的位置，如x1、x2和x3为局部放电点的坐标，xi1、xi2和xi3为第i个探头所在位置的坐标。(2) 作图法　根据测量探头的位置和放电信号到达各探头的时延的差别，用作图的方法来确定放电的位置，由于测试的方法不同，作图法又可分为好几种，这里列举两种主要的。 407D (1) 多点测量计算方法　 在变压器外壳的同一侧面上，安放m个接收超声波信息的探头，用直角空间坐标标明各探头及放电源的位置，如x1、x2和x3为局部放电点的坐标，xi1、xi2和xi3为第i个探头所在位置的坐标。 407D (2) 作图法 根据测量探头的位置和放电信号到达各探头的时延的差别，用作图的方法来确定放电的位置，由于测试的方法不同，作图法又可分为好几种，这里列举两种主要的。 407D (2) 作图法　 图4-31　变压器超声波定位示意图 407D 图4-32　用多探头超声波定位示意图 407D 二、 长电缆局部放电定位技术 图4-33　电缆行波法定位图a) 电缆局部放电位置　b) 放电脉冲时间间隔 407D 三、 电机局部放电的定位技术 4-34 407D 第五节　抗干扰技术 一、 识别干扰源二、 屏蔽和接地三、 滤波四、 差动补偿法五、 特征识别六、 统计处理和相关分析 407D 一、 识别干扰源 (1) 来自空间的干扰　空间传播的无线电信号，试验场地附近出现的各种火花放电如汽车的火花塞放电、电焊以及高压设备的放电等，都可以通过测试回路中的分布电容和电感耦合到检测阻抗上来。(2) 来自电源的干扰　电网中的各种高次谐波、过电压、可控硅动作、高压设备放电、高压冲击和击穿试验等，都会在测试回路的50Hz电源上叠加各种干扰脉冲。(3) 在试验回路中试样之外的放电　在测试回路中，除了试样中的放电之外，其他所有的放电都归为干扰，如高压引线的电晕，接触不良引起的放电，高压试验变压器、耦合电容器以及高压滤波器等高压设备的放电等；还有在试验回路的高场强区内，不接地的金属物可能出现的浮动电位体的感应放电等。1) 检查仪器本身的干扰。2) 将测量仪器和测试回路连接好，接线布置与测试时相同，但不接电源，将测量仪器调节到工作时的灵敏度。 407D 一、 识别干扰源 3) 不接试品接上电源，稍加一点电压，这时出现新的干扰，是电源来的干扰。 407D 图4-35　几种干扰图形a) 接触不良　b) 感应c) 无线电　d) 可控硅 407D 二、 屏蔽和接地 图4-36　驱动屏蔽示