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激光信息技术实验指导书
激光与光学信息技术
系列实验指导书
上海理工大学光电实验中心
目 录
实验一 精密位移量的激光干涉测量方法································1
实验二 面形的三维干涉测量及评价·····································5
实验三 缝宽或间隙的衍射测量············································9
实验四 微孔直径的衍射测量·············································14
实验五 巴俾特原理及细丝直径测量····································16
实验六 变形的全场衍射测量·············································18
实验七 4F 光学系统FT 及IFT 系统·····································21
实验八 HE-NE 激光器谐振腔的调整及模式分析··················25
第一部分: HE-NE 激光器谐振腔的调整·······························25
第二部分: HE-NE 气体激光器的模式分析····························30
实验一 精密位移量的激光干涉测量方法
一、实验目的:
1.了解激光干涉测量的原理
2 .掌握微米及亚微米量级位移量的激光干涉测量方法
3 .了解激光干涉测量方法的优点和应用场合
二、实验原理:
本实验采用泰曼-格林(Twyman-Green )干涉系统,T -G 干涉系统是著名的迈克尔逊
白光干涉仪的一种变型,在光学仪器的制造工业中,常用其产生的等间距干涉条纹对光学零
件或光学系统作综合质量检验。
泰曼-格林干涉仪与原始的迈克尔逊干涉仪不同点是,光源是单色激光光源,它置于一
个校正像差的透镜L1 的前焦点上,光束经透镜L1 准直后,被分束器A 分成两束光,到达反
射镜M1 和M2 并被反射,两束反射光再次经A 透射和反射,用另一个透镜校正像差的透镜
L 会聚,人眼则处在透镜L 的焦点位置观察,能够观察到反射镜M 和M 的整个范围,从
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而可获得清晰、明亮的等间距干涉直条纹,其原理如图1 所示。
图1 泰曼-格林干涉仪原理图
若作出反射镜M 在半反射面A 中的虚像M (图中未画出),干涉仪的出射光线相当于
1 1
M 和M ’所构成的空气楔的反射光,因而泰曼干涉仪实际上就等效于平面干涉仪,只是这
2 1
里两束光的光路被完全分开,进而产生了等厚干涉条纹。当光源是点光源时,条纹是非定域
的,在两个相干光束重叠区域内的任何平面上,条纹的清晰度都一样。不过,实际上为了获
1
得足够强度的干涉条纹,光源的扩展不能忽略,这时条纹定域在M1 和M2 构成的空气楔附
近。
下面解释干涉条纹的产生,如图 1 所示,设入射平面波经M 反射后的波前是W ,经
1 1
’
M 反射后相应的波前是W ,W 和W 位相相同。引入虚波前W ,它是在W 半反射面A
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