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GaN薄膜技术的几点突破
1999 年 微 细 加 工 技 术 №. 1
第 1 期 M icrofabrication T echno logy 1999
GaN 薄膜技术的几点突破
谢崇木
(天津电子材料研究所, 天津 300192)
【摘要】 简单回顾了半导体短波长激光器的发展过程, 归纳了GaN 基LD (激光
)
器 制作中 GaN 膜的几点技术突破。
关键词: 半导体激光器; 氮化镓
1 引 言
GaN 及相关的三元A lGaN 、四元A lGa InN 合金, 是近年重点研究的 族氮化物半导
体材料。它们具有直接迁移型能带结构, 是实现短波长半导体激光器的理想材料。在彩色电致
发光显示、激光打印、高密度信息存储、水下通信等领域有广阔的用途。又由于其波长特别适宜
于高密度 ( ) ( ) 的迅速
DVD 数字视频光盘 的应用, 有力地刺激了 GaN L ED 发光二极管 和LD
(
发展。特别是近年来, 集许多研究成果 如异质结外延技术、选择外延技术、半导体微结构形成
)
技术、包括 、 等技术在内的成果 之大成, 使得 基外延膜的生长技术, 无论
M BE M OCVD GaN
是在膜结晶质量的提高、 型掺杂的改进、 型掺杂的获得、缺陷控制以及 组份和波
n P InGaA lN
长关系的控制等方面都取得了急速的进步, 可以说获得了一系列突破性进展。在短短的一年多
时间里, GaN 基LD 实现了从脉冲到连续波工作的升级, 寿命从秒级上升到了数千小时, 为实
用化打下了坚实的基础。
2 短波 GaN 基LD 进展
附表举出日亚化学公司中村小组的一组数据为代表, 说明 GaN 基激光器的进展情况。
3 主要的技术突破
3 1 外延设备技术
在 60 年代半导体激光器开发初期, GaA s 激光器研制成功以后, GaN 也曾一度成为研究
收稿日期: 1998—09—08
1
© 1995-2004 Tsinghua Tongfang Optical Disc Co., Ltd. All rights reserved.
热点。但由于 GaN 体单晶制备困难和外延技术的限制, 未能取得明显进展。
附表 中村小组的GaN 基激光器一组数据。
阈值电流 阈值电压
时 间 工作方式 工作温度 寿 命 结构 文 献
( ) ( )
mA V
19969 180 ~ 24 脉冲 室温 M QW 〔1〕
199611 210 11 连续 233 30 〔2 〕
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