sem micro-ct 手册(pdf) - bruker.pdf

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样品内部微结构的无损检测和透视化显微术微计算机射线断层扫描技术基于扫描电子显微镜平台研发为增加真正的显微术任何厂家和任何型号的均可搭配通过获取样品的表面信息成像而专用的将成像技术进一步延伸以独特的视角观察样品内部的微结构完全无损操作简便功能概述非破坏性的获取样品内部微观结构信息无需任何额外的样品制备以或图像的形式形象化地显示和测量样品内部的形态生成仿真模型实现对样品内部的虚拟透视直观易用的透视软件以三个正交面或切片影像形式将样品细节可视化最大扫描体积的直径可达最大样品长度可达细节检测尺寸优于用于

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