第3章电子电路故障案例.ppt

第3章 时序电路测试算法 第3.1节 基本概念 时序逻辑电路的特点--时间迭代与空间迭代 时序逻辑电路测试的基本原理 第3.2节 迭接电路法 基本概念-----时间迭代变为空间迭代 同步时序电路的空间迭代 异步时序电路的空间迭代 第3.3节 状态变迁检查法 初始状态的设置--复原序列与引导序列 状态的识别--区分序列 故障测试 区分序列的存在性 第3.1节 基本概念 时序电路工作特性的描述--状态转换 状态表 方法 功能描述. （逻辑图是结构描述） 状态图 例：有一时序电路：状态S（S1，S2，S3），输入X（x1,x2,x3），输出Z（Z1，Z2） 其工作特性可用状态表和状态图描述如下： 第3.1节 基本概念 测试的基本步骤： 建立被测电路的初始状态； 当电路稳定时，加入测试矢量； 观察电路稳定时的输出响应； 重复上述步骤，直到故障在输出端出现为止。 测试方法： 结构性测试--迭接电路法； 功能性测试--状态变迁检查法。 第3.2节 迭接电路法 基本思想： 时序电路的时间迭代 组合电路的空间迭代 组合电路测试方法 迭接方法： 每一个状态等效一个组合电路，迭代次数 状态数，否则无解； 迭代模型： 第3.2节 迭接电路法 同步时序迭代的通路敏化法 方法：一面迭代，一面敏化，直到将故障算子敏化到输出端为止。 例：如图有两个D触发器的时序电路 输入：x 状态：y1y2 (00,01,10,11) 状态矢量：y1,y2 激励函数： 输出矢量： 求：F-s-a-1的测试 第3.2节 迭接电路法 解： 初始化：加复位脉冲R y={y1(0)=0,y2(0)=0} 迭接敏化过程： 第3.2节 迭接电路法 迭代过程描述： t0时段：y1(0)=0, y2(0)=0--对F s-a-1形成 算子； 按敏化要求：对与门有 x(0)=1 激励函数为： t1时段：y1(1)=0, y2(1)= 按敏化要求：对与门有 x(1)=1 激励函数为： 第3.3节 状态变迁检查法 1.基本思想 利用时序逻辑的状态图或状态表，检查在一定条件下是否进入规定状态，并输出正确的信息。从而得出电路的测试。 2.基本方法 主要寻求三个基本序列： (1)同步序列或引导序列----使处于任意状态下的被测电路复位（同步或引导）到 一个已知的初始状态，以便从该初始状态开始对电路进行测试； (2)区分序列----根据被测电路的输出来识别其初始状态及中间状态； (3)测试序列----由同步序列和区分序列，得出被测电路的状态转换及正常输出和 故障响应，从而得出测试； 3.测试 （1）时序状态初始化 状态初始化----测试寻求的起点 第3.3节 状态变迁检查法 1.同步序列----同步树 例1：有一时序电路的状态变迁表及状态图 （A,B,C,D）初始不确定性状态 (B,A,C） （A,C,D） （B,A） (C,A,D） (B,A,C) （A,D） （B） （A,C） （B,C） （A） 最短同步序列：x=000 B态 最短同步序列：x=111 A态 1 1 第3.3节 状态变迁检查法 3.状态识别----区分序列 区分序列用于区分时序电路的各个状态特征，以识别电路的 故障。 区分序列与引导序列的作法相同，有时引导序列就是区分 序列。但引导注重引导的最后状态，而区分序列 注重初始状态，中间状态和终止状态。 仍以例1： （A,B,C,D）初始不确定性状态 (AB)1(BC)0 （AD)0(AC)1 （B)0(B)1(AB)1 (A)0(C)1(C)1(D)0 (BC)0(B)0(A)1 (A)0(A)1(AD)1 区分序列 1 第3.3节 状态变迁检查法 4.测试序列 根据同步（或引导序列）和区分序列即可求出测试序列； 仍以例1为例： 有同步序列：X=000 电路复位到状态B； 区分序列：X=01 能区分状态A/B/C/D； 测试过程：先输入同步序列X=000 B态 输出Z=11（B C） Z=10（C A）