光电子器件_第二章结型光电探测器剖析.ppt

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光电子器件_第二章结型光电探测器剖析

4)温度特性 硅光电二极管和硅光电三极管的暗电流Id和光电流IL均随温度而变化,由于硅光电三极管具有电流放大功能,所以硅光电三极管的暗电流Id和亮电流IL受温度的影响要比硅光电二极管大得多,图3-17(a)所示为光电二极管与三极管暗电流Id与温度的关系曲线,随着温度的升高暗电流增长很快; 图3-17(b)所示为光电二极管与三极管亮电流IL与温度的关系曲线,光电三极管亮电流IL随温度的变化比光电二极管亮电流IL随温度的变化快。 (5)光敏三极管的频率特性 光敏三极管的频率特性曲线如图所示。光敏三极管的频率特性受负载电阻的影响,减小负载电阻可以提高频率响应。一般来说,光敏三极管的频率响应比光敏二极管差。对于锗管,入射光的调制频率要求在5kHz以下。硅管的频率响应要比锗管好。 0 100 1000 500 5000 10000 20 40 60 100 80 RL=1kΩ RL=10kΩ RL=100kΩ 入射光调制频率 / HZ 相对灵敏度/% 光敏晶体管的频率特性 光电阴极与光电倍增管 实验证明,光敏三极管的截止频率和它的基区厚度成反比关系。如果要求截止频率高,那么基区就要薄;但基区变薄,光电灵敏度将降低,在制造时要适当兼顾两者。 实验证明,光敏三极管的截止频率和它的基区厚度成反比关系。如果要求截止频率高,那么基区就要薄;但基区变薄,光电灵敏度将降低,在制造时要适当兼顾两者。 * 加反向电压时,伏安特性曲线常画成如下图所示的形式。 与硅光电池的伏安特性曲线图比较,有两点不同。 一是把硅光电池的伏安特性曲线图中Ⅰ、Ⅱ象限里的图线对于纵轴反转了一下,变为上图(a)。这里是以横轴的正向代表负电压,这样处理对于以后的电路设计很方便。 二是因为开路电压UOC一般都比外加的反向电压小很多,二者比较可略而不计,所以实用曲线常画为上图(b)的形式。 微变等效电路与频率特性: 光电二极管的等效电路可表达如下: 其中图a为实际电路; 图b为考虑到光电二极管结构、功能后画出的微变等效电路,其中Ip为光电流,V为理想二极管,Cf为结电容,Rsh为漏电阻,Rs为体电阻,RL为负载电阻; 图c是从图b简化来的,因为正常运用时,光电二极管要加反向电压,Rsh很大,Rs很小,所以图b中的V、Rsh、Rs都可以不计,因而有图c的形式; 图d又是从图c简化来的,因为Cf很小,除了高频情况要考虑它的分流作用外,在低频情况下,它的阻抗很大,可不计。 因此具体应用时多用图d和图c两种形式。 流过负载的交变电流复振幅为 : IL=Ip·1/(1+jωτ) ω:入射光的调制圆频率,ω=2πf,f为入射光的调制频率。 τ = CfRL IL的模量为 可见,IL是频率的函数,随着入射光调制频率的增加而减小。当ω=1/τ时, 这时f = 1/2πτ 称为上限截止频率,或称为带宽。 几种国产2CU型硅光电二极管的特性 几种国产2DU型硅光电二极管的特性 2.4 其他类型的光生伏特器件 PIN型光电二极管 为了提高PN结硅光电二极管的时间响应,消除在PN结外光生载流子的扩散运动时间,常采用在P区与N区之间生成I型层,构成如图3-6(a)所示的PIN结构光电二极管,PIN结构的光电二极管与PN结型的光电二极管在外形上没有什么区别,都如图3-6(b)所示。 PIN光电二极管在反向电压作用下,耗尽区扩展到整个半导体,光生载流子只产生漂移电流,因此, 它的时间响应只取决于τ 与τ ,在10-9s左右。 dr RC P N I 导带 价带 信号光 PIN光电二级管 P型层很薄使光子很快进入I区 I区电阻很大可加较高电压 高的电阻使暗电流明显减小,这些产生的光生电子-  空穴对将立刻被电场分离并作快速漂移运动 I区加入增大了耗尽层厚度 减小了结电容CJ,提高了量子效率 漂移时间约为 相当于f=1KMHz 入射光照射在P层上,由于 P层很薄,大量的光被较厚的I层 吸收,激发较多的载流子形成光 电流;又PIN结光电二极管比PN结 光电二极管施加较高的反偏置电压, 使其耗尽层加宽。当P型和N型半导 体结合后,在交界处形成电子和空 穴的浓度差别,因此,N区的电子要 向P区扩散,P区空穴向N区扩散。 P区一边失去空穴,留下带负电的杂质离子,N区一边失去电子,留下带正电的杂质离子,在PN交界面形成空间电荷,即在交界处形成了很薄的空间电荷区,在该区域中,多数载流子已扩散到对方而复合掉,即消耗尽了,耗尽层的电阻率很高。扩散越强,耗尽层越宽,PN结内电场越强,加速了光电子的定向运动,大大减小了漂移时间,因而提高了响应速度。

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