X射线正入射显微镜及其在ICF中的应用-电子科学技术.PDF

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2017-06-08 发布于天津
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X射线正入射显微镜及其在ICF中的应用-电子科学技术

7 1 Vol. 7, No. 1 1999 2 OPT ICS AND PRECISION ENGINEERIN G February , 1999 X ICF * 王占山　　陈星旦 ( 中国科学院长春光学精密机械研究所　　长春130022) X , , X 1 X 1 , , , X , , , X X X X Bragg nm , 1nm X , , , nm Br agg , , , X , X , , M / Si 1320nm , Liverm re M / Si 13. 4nm 66% [ 1] , M / Be 11. 3nm 68. 7%[ 2] , , / 4 X Ru B C 7nm 20% [ 3] , M / Y 8. 1nm 11. 4nm 22% [ 4, 5] [ 6] 46% , / , / , / 4. 5 10% , / 4 Fe C Cr C Ni C nm W B C * : 1998- 06- 04 : 1998- 07- 10 27 3. 45. 0nm 2%[ 7] , W/ Sc 3. 13. 2nm 3. 3%[ 8] , / 3. 14 72 , 10%[ 9] : Cr Sc nm 4. 5nm 13nm X , 100m[ 10] , Schw arzschild [ 1113] Schw arzschild , , Schw arzschild , X [ 14, 15] , , 0. 1m Schw arzschild [ 16, 17] , 0. 4 0. 1 mm m , , X , [ 1820] , [ 21] [ 22] [ 23] [ 24, 25] , , X , X X , , , , , , X X , X ICF( ) X , , 2 X 1 X , , , X , 200 m X , Schw arzschild , ,