2.5 加速寿命试验.pdf

第二章 寿命试验、加速寿命试验 及其数据的处理 2.5 加速寿命试验 微电子可靠性原理 天津大学电子信息工程学院 2.5 加速寿命试验 1.加速寿命试验概述 2.加速寿命试验的种类 3.加速寿命试验注意事项 4.加速寿命试验的基本原理 5. 加速系数τ 6.加速寿命试验结果的数据处理 微电子可靠性原理 天津大学电子信息工程学院 2.5 加速寿命试验 1.加速寿命试验概述 为什么要进行加速寿命试验？ 常规长期寿命试验缺点 1）用时长 2）太耗费人力、物力 电子产品更新换代快，有些产品没 做完长期寿命试验就被淘汰。 微电子可靠性原理 天津大学电子信息工程学院 2.5 加速寿命试验  高可靠性元器件被研制出来，常规 长期寿命试验无法验证其寿命。  通讯卫星用电子元器件 工作寿命＞ 5年  海底电缆增音机中晶体管 工作寿命＞ 20年 微电子可靠性原理 天津大学电子信息工程学院 2.5 加速寿命试验 e.g., 人造卫星上所使用的电子元器件要求 -8 失效率λ=2.6 ×10 /小时（7级） 实验方案一： 抽取1000只 允许5元件失效 试验时间 -8 λ=2.6 ×10 /小时 22年 λ=10-10/小时 5700年 微电子可靠性原理 天津大学电子信息工程学院 2.5 加速寿命试验 实验方案二： 允许失效数 试验时间 抽取样品数 5件 1000h -8 5 λ=2.6 ×10 /小时 1.9×10 λ=10-10/小时 7 5 ×10 微电子可靠性原理 天津大学电子信息工程学院 2.5 加速寿命试验 加速试验 短时间内对电子元器件施加高应力，以加速 它们失效，从而预测电子元器件在正常应力 下的平均寿命或失效率。 2.加速寿命试验的种类 (1)恒定应力法 (2)步进应力法 (3)序进应力法 微电子可靠性原理 天津大学电子信息工程学院 2.5 加速寿命试验 （1）恒定应力法 Constant Stress