TEI-SHC1104XX-Card SHC1104XX卡片测试规范_迪 隆_20101231.pdf

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TEI-SHC1104XX-Card SHC1104XX卡片测试规范_迪 隆_20101231

第1 页 共4 页 1 目的 明确卡片封装厂家测试SHC1104XX 卡片的测试内容、测试条件及判别标准。 2 范围 适用于卡片封装厂家对华虹SHC1104XX 卡片进行功能、性能的测试检查。 3 职责 运营部测试工程师负责对规范的更新和落实,并确保其正确性。 4 名词定义 无。 5 流程图 无。 6 内容 6.1 测试条件 逻辑测试:在Type A 模式下,采用100%的调制进行功能测试。 测试场强: 1.5 A/m 测试距离:天线表面中心3cm 高度 测试前提:批量测试卡片前,必须确认测试设备稳定,所设置的测试条件无误后,方可进行卡片 的批量测试、检查。要求在测试设备上使用标识清楚的专用测试菜单进行测试。 TEI-SHC1104XX-Card A2 第2 页 共4 页 6.2 测试内容及方法 6.2.1卡片全功能测试 卡片全功能测试的具体步骤描述如下: (1) 询卡(request):确认卡片返回固定的两字节(ATQA :0004 )。 (2) 抗冲突(anticoll):确认卡片返回4 个字节(UID )。 (3) 选卡(select):确认卡片返回1 个字节 (CID :08 )。 (4) 认证(authentication):初始密钥为6 个字节(全“FF”)。 (5) 写(write)操作检查: A)所有普通数据块写“AA55AA55AA55AA55AA55AA55AA55AA55”后并读(read)出校验正确? B)所有普通数据块写“55AA55AA55AA55AA55AA55AA55AA55AA”后并读(read)出校验正确? (6) 把BLOCK4(1扇区0 块)写入“55FFFF7FAFFF7F00FF00FF”并读出校验是否正确?。 (7) DECREMENT:对BLOCK4 进行一次加操作,所加数值为,并读出校验BLOCK4 内容 是否为“AAFFFF7AFFFF7F00FF00FF”? (8) INEREMENT:对BLOCK4 进行一次减操作,所减数值为“55FF0000”,并读出校验BLOCK4 内容 是否为“0000FF7FFFFF7F00FF00FF”? (9) 完成以上所有步骤后,把所有写过的BLOCK 普通数据块内容恢复为原始数据(全00)并读 出校验,判断是否写正确? 6.3 EE 普通数据块图示如下 Sector Block 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 15 3 FF FF FF FF FF FF 权限位 FF FF FF FF FF FF 2 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 1 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 0 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 TEI-SHC1104XX-Card A2 第3 页 共4 页 14 3 FF FF FF FF FF FF 权限位

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