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常见术语 质荷比: 离子质量(以相对原子量单位计)与它所带电荷(以电子电量为单位计)的比值,写作m/z. 峰: 质谱图中的离子信号通常称为离子峰或简称峰. 离子丰度: 检测器检测到的离子信号强度. 基峰: 在质谱图中，指定质荷比范围内强度最大的离子峰称作基峰. 总离子流图 在选定的质量范围内，所有离子强度的总和对时间或扫描次数所作的图,也称TIC图. 质量色谱图 指定某一质量(或质荷比)的离子其强度对时间所作的图，也称EIC图.利用EIC图来确定特征离子，在复杂混合物分析及痕量分析时是最有用的方式。当样品浓度很低时TIC上往往看不到峰，此时根据目标分子量信息，输入M+1或M+23等数值，观察EIC图，检验目标物是否能被检测。 准分子离子 指与分子存在简单关系的离子，通过它可以确定分子量.最常见的准分子离子峰是[M+H]+或[M-H]-.在ESI中, 往往生成质量大于分子量的离子如M+1,M+23,M+39,M+18......称准分子离子表示为:[M+H]+,[M+Na]+等. 碎片离子 准分子离子经过一级或多级裂解生成的产物离子.碎片峰的数目及其丰度则与分子结构有关,数目多表示该分子较容易断裂,丰度高的碎片峰表示该离子较稳定,也表示分子比较容易断裂生成该离子。 多电荷离子 指带有2个或更多电荷的离子,常见于蛋白质或多肽等离子.有机质谱中,单电荷离子是绝大多数,只有部分不易碎裂的基团或分子结构才会形成多电荷离子.它的存在说明样品是较稳定的. 采用电喷雾的离子化技术可 产生带很多电荷的离子,最后经 计算机自动换算成单m/z离子。 同位素离子 由元素的重同位素构成的离子称为同位素离子.各种元素的同位素基本上按照其在自然界的丰度比出现在质谱中,这对于确定化合物及碎片的元素组成很方便. 还可利用稳定同位素合成标记化合物,再用质谱法检出这些化合物,在质谱图外貌上无变化,只是质量数的位移,从而说明化合物结构,反应历程等 质谱分析注意事项 确定分子离子（分子量） 氮规则：含偶数个氮原子的分子，其质量数是偶数，含奇数个氮原子的分子，其质量数是奇数。与高质量碎片离子有合理的质量差，凡质量差在3-8和10-13，21-25之间均不可能，则说明是碎片或杂质。 确定元素组成（分子式） 高分辨质谱可以由分子量直接计算出化合物的元素组成从而推出分子式，低分辨质谱利用元素的同位素丰度 峰强度与结构的关系 丰度大反映离子结构稳定; 在元素周期表中自上而下，从右至左，杂原子外层未成键电子越易被电离，容纳正电荷能力越强; 含支链的地方易断，这同有机化学基本一致，总是在分子最薄弱的地方断裂。 不同类型有机物有不同的裂解方式，相同类型有机物有相同的裂解方式,只是质量数的差异 影响分子量测定的因素 pH：影响离子化效率，正离子方式低pH，负离子方式高pH； 气流和温度：当水含量高及流量大时要相应增加； 溶剂和缓冲液：通常正离子用甲醇好，负离子乙腈好些，流速适当可以提高出峰的灵敏度； 合适的电压：DP电压高时样品在源内分解或碎裂，但多电荷离子比例低，多聚体也减少； 样品结构和性质； 杂质的影响：溶剂的纯度、水的纯净程度等。当成分复杂，杂质太多时，竞争使被测物离子化程度低. 用大气压电离质谱仪可以得到分子量信息 正离子方式常出现如下离子:+Na +22Da；+K +38Da；+Li +6Da；+NH4 +17Da；+ACN+40 Da；2M+H；2M+Na等 负离子方式常出现如下离子:+TFA +114Da(113和227背景)；+Acetate 60Da；+Formic 46Da；+Cl +36Da. Selected Ion Monitoring (SIM选择离子监测) 子离子分析（MS/MS） 得到化合物的碎片离子谱图用于结构判断和化合物鉴定。 MS/MS谱图与锥体电压断裂谱图（源内CID）相似，所不同的是MS/MS谱图的所有碎片离子都是由选定的母离子产生的，所以由MS/MS产生的谱图更可信。 常见的碎片化过程中，能量都是以碰撞的形式输送给分子离子，这个能量足以使得处在能量亚稳态分子中的某些化学键断裂并使一些特定的分子发生结构重排。 碰撞诱导解离方式（CID）：选择一定质量的离子作为母体离子，进入碰撞室，室内充有靶反应气体(碰撞气体：N2、He、Ar、 Xe、CH4等)，发生分子-离子碰撞反应，从而产生‘子离子’，再经MS2的分析器及接受器得到子离子质谱，一般称做CID (collision-induced dissociation)谱 影响CID质谱的因素：碰撞气体的种类、真空、离子能量、仪器的配置以及离子电荷状态等. 由于在不同的仪器上不可能在完全相同的条件下去分析样品，任何一个给定的化合