材分析期末终极复习汇编.docx

名词解释：相干散射：当入射线与原子内受核束缚较紧的电子相遇，光量子能量不足以使原子电离，但电子可在X射线交变电场作用下发生受迫振动，这样的电子就成为一个电磁波的发射源，向周围辐射与入射X射线波长相同的辐射，因为各电子所散射的射线波长相同，有可能相互干涉，称为相干散射。非相干散射：当X射线光量子与自由电子或者受核束缚较弱的电子碰撞，将一部分能量给予电子，使其动量提高，成为反冲电子，而光子损失了能量，并改变了运动的方向，其波长将会变长，这种散射称为非相干散射。俄歇效应：原子中一个K层电子被入射光量子击出后，L层一个电子跃迁入K层填补空位，此时多余的能量不以辐射X光量子的方式放出，而是另一个L层电子获得能量跃出吸收体，这样的一个K层空位被两个L层空位代替的过程称为俄歇效应。光电效应：当入射光量子的能量等于或者略大于吸收体原子某壳层电子结合能（即该层电子激发态能量）时，此光量子很容易被吸收，获得能量的电子从内层溢出，成为自由电子，称为光电子，原子则处于相应的激发态，这种被入射辐射电离现象即光电效应。连续X射线谱：由波长连续变化的X射线构成，它和白光相似，也是多种波长的混合体，故也称白色Ⅹ射线或多色X射线。特征X射线谱：由有一定波长的若干X射线迭加在连续X射线谱上构成，它和单色的可见光相似，具有一定的波长，故称单色X射线。每种元素只能发出一定波长的单色X射线，它是元素的标志，故也称为特征X射线、标识X射线。荧光辐射：入射能量束的粒子和物质原子中电子相互作用，当粒子能量足够大就能激发出内层电子，高能量层电子填补激发态空位，能量差以X射线形式辐射。为荧光辐射。系统消光：由于衍射线的相互干涉，某些方向的强度会加强，而某些方向的强度会减弱甚至消失，这种规律称为系统消光。简答题：1，滤波片选择原则：滤波片的K吸收限刚好位于入射X射线的与之间，尽量靠近，过滤掉强度较低的和连续谱。2,阳极靶材的选择原则是阳极靶材的特征X射线波长偏离样品吸收限，样品对X射线尽可能少吸收。3,镜面发射和X射线衍射区别： 被晶体衍射的X射线是由入射线在晶体中所经过路程上的所有原子散射波干涉的结果，而可见光的反射是在极表层上产生的，可见光反射仅发生在两种介质的界面上；单色X射线的衍射只在满足衍射条件的若干个特殊角度上产生(选择衍射)，而可见光的反射可以在任意角度产生；可见光在良好的镜面上反射，其效率可以接近100％，而X射线衍射线的强度比起入射线强度却微乎其微。4，X射线衍射方法：劳埃法：采用连续X射线照射不动单晶体。周转晶体法：采用单色X射线照射转动的单晶体，并用一张以旋转轴为轴的圆筒形底片记录。粉末法：采用单色X射线照射多晶体，试样为数量众多、取向混乱的微晶体组成，可以测定晶体结构、物相定性、定量分析，精确测定晶体的点阵参数以及材料的应力、晶粒大小。5，影响衍射强度的因素：结构因数，角因数，多重性因数，吸收因数、温度因数。6,弯晶单色器在X射线衍射里作用是消除线，并降低由于连续X射线及荧光辐射所产生的背底。在波谱仪里作用是？？？7，X射线衍射仪由X射线发生器、测角仪、辐射探测器、记录单元或自动控制单元。8，X射线衍射仪和德拜照相区别：衍射仪入射光束为线状焦斑、平板状试样、试样各处吸收均匀吸收系数A为常数、衍射记录是测角仪+探测器（其中试样和探测器保持θ-2θ转动）；德拜相机入射光束为点焦斑、棒状试样、试样吸收满足A(θ)、衍射记录采用底片（样品固定在底片圆心处）。9，物相定量分析的原理是什么？对食盐进行化学分析和物相定性分析，所得信息有何不同？答：X射线衍射分析是以晶体结构为基础的。任何一种结晶物质都具有特定的晶体结构，在一定波长的X射线照射下，每种晶体物质都给出自己特有的衍射花样。每一种晶体物质和它的衍射花样都是一一对应的。多相试样的衍射花样是由它所含物质的衍射花样机械叠加而成。 对食盐进行化学分析得到食盐的化学组分信息，即包含的化学元素种类及含量；而物相分析则获得相结构信息，及各成分的存在晶系、晶格参数等。10，简述利用X射线衍射仪法进行两相混合物物相分析的过程。a利用X射线衍射仪绘制混合物的衍射图谱；b选取三强线d1、d2、d3；c查数字索引，首先在页眉上确定d1的组别，然后根据d2、d3进一步缩小查找范围。如果三条线都在误差范围内，再对照八强线，若均吻合，可以初步确定该物相。根据其卡片号再查找相应的PDF卡片，将实验所得d值和相对强度与卡片上的数据进行比较，如对应较好即可确认该物相。如果找不到，重新搭配三强线，并重复以上过程，直到找到为止。d找出第一物相后，可将其所有线条剔出，并将其余的线条的强度归一化，选出三强线，重复以上过程，定出第二相。10，物相定量分析的原理是什么？试用K值法进行物相定量分析的过程答：基本原理：各相的衍射线强度随着该相含量的增加而提高，由