ITO导电玻璃检验标准.doc

1.0范围 本标准准适用于正星光电科技有限公司生产的ITO产品。 2.0规范性引用文件 2.1 JIS B0601—1994表面微观波纹度测量过程和方法的标准。 2.2 GB2828—2003计数抽样检验程序[第一部分 按照接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划]。 3.0玻璃基片的规格 3.1 长度及宽度的允许偏差、厚度允许偏差表 序号 检验项目 标准范围 测量方法 1 长度/宽度 ±0.20mm 数显游标卡尺 2 厚度 1.10mm±0.1mm 0.70mm±0.05mm 0. 55mm±0.05mm 0.4/0.33mm±0.05mm 千分尺 3 垂直度 ≤0.10% 宽座角尺和塞尺 3.2垂直度 玻璃基片的垂直度的公差等级a/L≤0.1%（见图1，a为公差带，L为被测玻璃基片的相应边长）。 图1 玻璃基片的垂直度 3.3 弯曲度（h/L) 图2 玻璃基片的弯曲度，不允许S形弯曲 3.4微观波纹度（玻璃的浮法锡面） 微观表面波纹度的数值Rt的最大值应符合表2要求 序号 厚度 玻璃类型 弯曲度 微观波纹度 1 1.10mm 非强化 ≤0.10% ≤0.15um/20mm 强化 ≤0.20% 2 0.70mm 非强化 ≤0.15% ≤0.20um/20mm 强化 ≤0.25% 3 0.55mm 非强化 ≤0.15% ≤0.25um/20mm 强化 ≤0.30% 4 0.4/033mm 非强化 ≤0.15% ≤0.30um/20mm 强化 ≤0.30% 3.5磨边倒角: R型边 编号 项目 标准要求 检验方法 1 C型倒边 0.05mm≤W≤0.4mm 10倍放大镜 2 R型倒边 宽度:0.1mm≤W≤1.0 曲半径: R≤50 mm 10倍放大镜 3 标识角 b=2.0±1.0mm c=5.0±1.0mm 10倍放大镜 4 相同角 A=1.5±0.5mm 10倍放大镜 5 崩边 长≤1mm,宽≤0.3mm 深度≤1/2基片厚度 10倍放大镜 6 破裂 不允许 目测 7 边、角未磨 不允许 目测 3.6表面质量 包括内部气泡、夹杂物、表面凹坑、异色点等。 点状缺陷的直径d定义为：d=（L+W）/2，见图5。划伤缺陷的定义为：L 3mm,W 0.03-0.07mm见图6： 图5点状缺陷的尺寸 图6划伤图形的尺寸 3.6.1双面ITO产品表面质量检验标准 No 缺陷分类 A品标准范围 B品 测量方法 1 内部气泡、杂质点、针眼、污点、锡斑、亮点、表面凹凸点、颗粒 d=(W+L)/2 d≤0.05mm不计 0.05d≤0.20mm最多2个/片 d0.20mm不允许 D≤0.2mm,10个/片,允许; D0.2mm,不允许. 裸眼≥ 1000LUX（30W日光灯） 光照条件 距离玻璃 30cm （注：客户有特别要求的，以客户要求为准） 2 玻筋 日光灯下不可见 3 划伤 宽度W≤0.03mm,不计;0.03mm≤W≤0.07mm,单个长度≤3mm,1条/片允许;W0.07mm,不允许. W≤1mm,单个长度≤100mm,1条/片允许.单个长度≤50mm,2条/片允许.单个长度≤10mm,5条/片允许.单个长度≤5mm,不计.间隔距离100mm以上W1mm,不允许. 4 污染 使用专用清洗剂经过正常清洗过程后清洗不干净的沾污不允许 5 膜层针孔 d=(L+W)/2 d≤0.05mm不计 0.05d≤0.20mm 最多2个/片 d0.20mm不允许 d≤0.05mm不计 0.05d≤0.20mm 最多10个/片 d0.20mm不允许 6 毛边.锡斑. 发霉 批量性.表面看比较明显不允许 7 手指印 超出边缘5mm，批量性可擦拭不允许 8 亮道划伤.污渍.手指印.轮印 偶尔1-2片日光灯不可见允许，批量性日光灯不可见不允许。 9 颜色 日光灯检验有异色不允许 10 漏镀ITO 不允许 11 裂 纹 不允许 12 结疤 不允许 13 玻璃屑 不允许 14 粘附力 不允许 15 质量保证区 允许边缘5mm 质量保证区域以外,即四周边缘5mm以内区域除崩边角,裂纹、毛边较严重以外的其他种类缺陷(包括划伤、气泡、针眼、污渍、节疤)可以不考虑。 3.6.2玻璃镀膜后表面质量经过100%在线检验,祼眼使用反射光法或透射光法在距离玻璃30cm检验