失效分析技术及经典案例第三讲.pdf

失效分析技术及经典案例 第三讲 韩勇生 hanlin5312@126.com 2641302273@ 总目录 • 第一讲失效分析概论 • 第二讲失效分析技术及设备 • 第三讲失效分析典型案例 第三讲失效分析典型案例 星网锐捷中试FA培训教材 • 设计缺陷案例 • 制程及工艺缺陷案例 • 器件(来料)失效案例 1.设计缺陷案例 1 88E4145 案例 ；主板供电芯片电容误用引发 失效 1 S2724G 88E1145IC （ ）样品名称； 主板 2 110 6 （ ）背景；该主板投放 台，在调试过程中发现 片 88E1145 , 5.45 （ ）芯片不良 不良率 ％。 3 （ ）失效模式；功能失效 4 EOS （ ）失效原因； 、器件误用失效 5 88E4145 （ ）分析结论；瞬间过电压脉冲引发 端口失效 6 S2724G1.2V SP6128 （ ）分析说明；主板 电源供电芯片 芯片 的反馈电容C769选取值偏大，负反馈电路不正常，造成 1.2V电源开机时产生4V1.2mS尖峰脉冲冲击88E1145IC， 多次开机尖峰脉冲引发88E4145失效。 (7) 改善措施；C769由0603 X7R 473 K档16V替换成 0603/X7R/472/K档/25解决。 • 88E1145芯片进行I/V 曲线测试，发现 G5,L5,H16 1.2V电源 点I/V曲线异常： • 上电瞬间故障 主板的1.2V 供电出现4V 左右的尖脉 冲，持续时间 1.2MS。 案例 失效分析方法 1 1.设计缺陷案例 2 案例 主板供电芯片电容误用引发主板电源电压低 1 S2951XG （ ）样品名称； 主板 2 S2951XG 59 CT19 5 （ ）背景； 投产 台主板，发现 电压低故障 台。不良 率为8.47%. 3 （ ）失效模式；电压低 4 ; IP1202 5V （ ）失效原因 芯片 电路设计缺陷，输出的补偿环路电容取 值临界，造成5V输出电压不稳。器件误用失效 5 IP1202