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光电三极管集电极的作用？ 答：光敏三极管的工作有两个过程：一是光电转换；二是光电流放大。光电转换过程是在集基结内进行，与一般光电二极管相同。 光辐射检测器存在哪些内部噪声？ 答：光辐射检测器中存在的内部噪声主要由热噪声、散粒噪声、半导体中产生的符合噪声、温度噪声和闪烁噪声。 从结构上分LED有哪几种类型？ 答：从结构上，LED有五种类型表面发光二级管（SLED）侧面发光二级管（ELED）、平面LED、圆顶形LED和超发光LED。 什么事光电直接检测系统？ 答：所谓光电直接检测是将测光信号直接入射带光检测器光敏面上，光检测器响应于光辐射强度而输出相应的电路或者电压。 根据检查原理，光电检测的有哪几种基本方法？ 答：直接作用法、差动测量法、补偿补偿法、脉冲测量法 说明两种类型光敏电阻的用途和原因。 答：本征半导体光敏电阻与杂质半导体光敏电阻。本征半导体光敏电阻的长波长要短于杂质半导体光敏电阻的长波长，因此，本征半导体光敏电阻常用于可见光长波段的检测，而杂质型半导体光敏电阻常用于红外波段光辐射甚至于远红外波段光辐射的检测。 解释什么事单元光电信号？ 答：由一个或几个光电转换期间构成的光电转换电路所产生的独立信号称为单眼光电信号。 激光干涉侧长由哪几部分组成？ 答：激光光源、干涉系统、光电显微镜、干涉信号处理部分。 什么是产生、复合噪声？ 半导体受光照时，载流子不断地产生－复合，电导率起伏引起电流起伏产生的噪声. 试述光纤的结构并分析各部分折射率的关系。 光纤由三部分组成：纤芯n1（玻璃、石英或塑料、n1最大）、包层n2（玻璃或塑料n2 n1）及外套n3. n2 n3 n1. 叙述光电信号检测电路外部噪声产生原因和预防方法 答：外部噪声实际上属于外部扰动，包括辐射源的随机波动和附加的光调制、光路传输介质的湍流和背景起伏。杂散光的入射以及检查系统受到的电磁干扰等。这些扰动可以通过稳定辐射光源、遮断杂光、选择偏振面或滤色光片以及电气屏蔽、电干扰滤波等措施加以改善或消除。 今后光电检测技术的发展趋势有那几点？ 答：1.发展纳米、亚纳米搞精度的广电测量新技术。 2.发展小型的，快速的微型光、机、电检测系统。 3.非接触、快速在线测量，以满足快速增长的商品经济的需要。 4.向微空间三维测量技术和大空间三维测量技术发展。 5向人们无法触及的领域发展。 6.发展闭环控制的光电检测技术系统，实现光电测量与广电控制一体化。 7.发展光电跟踪与光电扫描技术，如远距离的遥控、遥测技术、激光制导、飞行物自行跟踪和复杂形体自动扫描测量等。 什么是外光电效应？（8分） 外光电效应是指，光照射在金属上，金属向外发射电子的效应。 为什么结型光电器件在正向偏置时没有明显的光电效应？必须工作在哪种偏置状态？（12分） 1）正偏效果―――正向导电，电场电流IF较大；光照电流IP相对来说可以忽略，即有无光光照基本上不影响电流大小；正偏时起不到光电检测效果。 2）零偏置或反偏效果―――无光照时有暗电流，即反向饱和漏电流,其值很小，几乎为零；有光照时，电子空穴对增加，光照电流较大，有无光照反差较大，可以作为检测元件，进行光电检测。因此结型器件必须工作在零偏置或反偏工作状态。 是转速测量系统已知圆盘的孔数为 N，光电探测器输出的脉冲信号频率 、 所示，是转速测量系统， ， 测量系统 为 f，求转轴的转速 n（单位为 r/min）（ 分） ， 转轴的转速为： 图 1 转速测量系统 ②光对光源发光强度的要求。为确保光电测试系统的正常工作，对系统采用的光源的发光强度应有一定的要求。光源强度过低，系统获得信号过小，以至无法正常测试，光源强度过高，又会导致系统工作的非线性，有时还可能损坏系统、待测物或光电探测器，同时还会导致不必要的能源消耗而造成浪费。因此在设计时，必须对探测器所需获得的最大、最小光适量进行正确估计，并按估计来选择光源。 ③对光源稳定性的要求。不同的光电测试系统对光源的稳定性有着不同的要求。通常依不同的测试量来确定。稳定光源发光的方法很多，一般要求时，可采用稳压电源供电。当要求较高时，可采用稳流电源供电。所用的光源应该预先进行月化处理。当有更高要求时，可对发出光进行采样，然后再反馈控制光源的输出。 ④对光源其他方面的要求。光电测试中光源除以上几条基本要求外；还有一些具体的要求。如灯丝的结构和形状；发光面积的大小和构成；灯泡玻壳的形状和均匀性；光源发光效率和空间分布等等，这些方面都应该根据测试系统的要求给以满足。 光电倍增管的供电电路分为负高压供电和正高压供电，说明两种电路各有什么特点？ 采用阳极接地，负高压供电。这样阳极输出不需要隔直电容，可以直流输出，一般阳极分布参数也较小。可是在这种情况下，必须保证作为光屏蔽和电磁屏蔽的金属筒距离管壳至少要有10～20mm，否