500V/0.4ΩVDMOSFET导通电阻的优化设计.pdfVIP

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维普资讯 辽宁大学学报 JOURNAL0FLlAONINGUNIVERSITY 自然科学版 NaruralSc/encesE缸 /on 第35卷 第3期 2008年 Vo1.35 No.3 2oO8 500V/O.4~VDMOSFET导通电阻的优化设计 王中文 ,刘少鹏,卢雪梅 (辽宁大学物理学院,辽宁沈阳110036) 摘 要:介绍了VDMOSFET工作原理和 VDMOSFET导通电阻的组成.利用Mathematlca软件作出了VD= MOSFET单胞电阻随Lw与 £变化关系的三维 曲线图.以500V/O.4QVDMOSFET为例对导通电阻进行 优化设计. 关键词:VDMOSFET;导通电阻;Mathematica软件. 中图分类号:TN303 文献标识码 :A 文章编号:1000-5846(2008)03-0204-02 R 线性工作时单胞 的沟道 电阻可表示为:R = 1 导通 电阻的组成 式中 为沟道电子迁移率;Cm是 如图1,导通电阻可以划分为如下几个部分: 源极接触电阻R ,源区体电阻R 沟道 电阻R。, 单位面积栅氧化物 电容;L是 MOS的沟道长度 , 积累层 电阻R,寄生结型管电阻 ,外延层 电阻 它恒等于0.8(( 一 ); 是单胞的沟道宽度, R,衬底 电阻Rbd,漏极接触电阻R。. 可以通过减小沟道长度或增加沟道内电子迁移率 的办法来减小沟道 电阻. = 4( +0.8 +0.8 ) 考虑到单位面积可以容纳的单胞数为 1/( + ),所以 VDMOS特征导通电阻可近似表示为: R如 = 图 1 导通 电阻的构成 ‘ (O.8 一O-& )( + ) 漏源电极接触电阻和漏源体区电阻在正常工 4’ ‘ ‘ ‘( +0.4 · +O.4· )(GS一 ) 艺条件下可以做得很小,且与器件结构参数的关 积累层特征导通电阻: 系不大.在击穿电压给定的条件下,各个最小值之 同样按照如上考虑方法, 和即为导通电阻的最佳值.把单位面积内的电阻 和电流分别定义为特征电阻和特征电流 若定义 蚴 = 等 为窗 口扩散区长度,。为多晶硅栅长度.则 其中 为耗尽层MOS夹断电压,JFET特征导通 电阻: ( + )。为单胞面积对导通电阻起主要作用的 是 ,R,R,R.这几个电阻均与结构参数密切 =p 最 鲁 相关 ,沟道特征导通电阻:R。na=R +R + + 外延层特征导通电阻: 作者简介:王中文(1969-),辽宁锦州人,辽宁大学物理学院电子科学与技术教研室实验师,从事微电子方面研究 基金项目:沈阳市科委(1032029-2一o6) 收稿 日期:2008-06-04

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